改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计

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• 来源
  《科学技术与工程》 |2007年第12期|2825-2829|共5页
• 作者

  李春伟; 何振中; 陈新武;

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• 作者单位

  宁夏大学物理电气信息学院,银川,750021;

  宁夏大学物理电气信息学院,银川,750021;

  华中科技大学多谱信息处理技术国防重点实验室,武汉,430074;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 测试和检验;
• 关键词

  可测性设计; 扫描测试; 内建自测试; Test-Per-Clock; 测试向量压缩;