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顾梦茜; 袁建星;
不详;
ULSI; 集成电路; 多层布线; 可靠性;
机译:Birnbaum-Saunders产品疲劳寿命分布的寿命统计和渐进应力加速寿命试验的可靠性统计分析
机译:基于Ⅰ型混合检查的对数位置尺度寿命分布的恒应力加速寿命试验的推论
机译:Ⅰ类删失下具有对数位置尺度寿命分布的等效步进应力加速寿命试验
机译:电迁移测试过程中触点几何形状变化对IC封装寿命分布的影响
机译:在极小的长度尺度上以原位电迁移和可靠性的可靠性
机译:采用渐进式混合检查的逐步应力部分加速寿命试验中掩盖式混合系统寿命数据的统计分析
机译:渐进式I权删失下的指数寿命分布贝叶斯简单步进应力加速寿命试验计划
机译:具有一般寿命分布的可靠性系统检验时序的顺序确定
机译:电子设备的焊料可靠性加速寿命试验装置及试验方法
机译:高加速寿命试验产生二次振动高加速寿命试验产生二次振动,利用便携式球和多轴滑架导轨或
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