首页> 中文期刊> 《空间电子技术》 >屏蔽罩中场强的测量

屏蔽罩中场强的测量

         

摘要

cqvip:屏蔽室测量(30~200MHz) 1 引言 本文描述了如何有选择地放置辐射吸收材料(RAM),这种材料能够大大减小无衬屏蔽室中产生的电磁谐振的Q值。在屏蔽室中完成的EMC(电磁兼容性)性能试验结果与在其他室中进行的同样检测通常相差20dB或更多。这些结果由室谐振、天线位置和室内的EUT(被检测设备)决定。已对这些谐振做了详细研究,提到的衰减方法使发射测量同在开场区所做的、在30~200MHz频域内的一致性达到5dB以内。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号