外科正畸中X线头影测量分析方法 1、颅基位X线头影测量分析

宿玉成; 曹树民

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外科正畸中X线头影测量分析方法 1、颅基位X线头影测量分析

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本文研究了7d名正常(牙合)汉族青年的颅基位X线头影测量片,就选择参考中线、计算面部对称程度及在外科正畸中的应用等问题进行了研究,结论如下:(1)颅基位X线头影测量片与侧位及正位X线头影测量片结合,可以全面地分析面部畸形;(2)以Ba至FH垂线为参考中线是比较合理的;(3)本文提出面部结构偏离度及偏差的概念及计算方法,可用于分析面部结构的影称程度;(4)正常人中面部结构偏离度小于10％,面部结构偏差小于21mm;(5)提出了以上、中、下面部结构为基础的外科正畸X线头影测量分析方法。

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来源
《口腔医学研究》 |1989年第3期|165-170|共6页
作者
宿玉成; 曹树民;
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作者单位

口腔医学院颌面外科;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 R780.41;
关键词
口腔正畸; 颅基位; X线; 头影测量;

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