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用普通物理实验的方法测量光盘参数

         

摘要

光盘的参数有多个,它们反映了光盘质量的好坏.基于光盘的结构,把光盘抽象成一维光栅,运用反射光栅的原理和He-Ne 激光及游标卡尺等测量光盘的道间距,信道长度和反射率.

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