Cr含量对CuCr触头材料开断能力的影响

W.P.Li; 蔡莉; 等

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Cr含量对CuCr触头材料开断能力的影响

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CuCr触头材料中的Cr含量的影响，特别是对大电流开断的影响的研究，迄今为止几乎全部是在试验用真空灭弧室内进行，而不是在实际的真空灭弧室中进行的。触头和它们周围的环境（机电的或气体的）之间可能的相互作用或许需要工业用的真空灭弧室，以便得到一个更切合实际的Cr含量对触头材料综合性能影响的试验判断方法。本文中触头内的Cr含量在5－75wt%的范围内变化，并使用38kV纵磁场真空来灭弧室进行试验。测量了作为Cr含量函数的触头材料的电导率、硬度特性和真空灭弧室的总电阻。在短路电流开断试验的前后，测试了触头材料的交流电压和脉冲电压的耐受能力。触头的电侵蚀性能在真空灭弧室经受仅半个周期的燃弧试验时确定。

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来源
《真空电器技术》 |2001年第2期|42-47|共6页
作者
W.P.Li; 蔡莉; 等;
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作者单位

美国西屋公司;

美国西屋公司;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类真空断路器;
关键词
真空灭弧室; 真空断路器; 铬含量; 铜铬触头材料; 开断能力;

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