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磁共振弥散张量成像技术在轻中度脑损伤中的应用

         
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目的 探讨磁共振弥散张量成像技术(DTI)在轻中度脑损伤中的应用,推断锥体束损伤的程度,并通过DTI的动态观察预测锥体束损伤后中长期的预后.方法 2016年10月至2018年10月轻中度脑外伤患者25例,采用GE公司的Signa 1.5T HDX型超导型磁共振扫描仪,常规扫描方向是横断及冠状位,DTI扫描应用自旋-平面回波技术,扫描方向为横断及冠状.采集DTI数据,额叶和额颞叶复合损伤,通过测量外伤病灶侧及非病灶侧的FA值,观察病灶远端神经束的FA值的变化.对颞叶损伤累及内囊的患者,在大脑脚水平测量病灶侧及非病灶侧FA值.结果 额叶和额颞叶复合损伤患者,外伤病灶侧神经束FA值明显低于非病灶侧.测量大脑脚FA值,病灶侧神经束明显低于非病灶侧.额前叶神经束病侧FA值较健侧明显下降(0.45±0.06 vs 0.50±0.05),差异有统计学意义(P<0.05).在大脑脚水平,病灶侧FA平均值为0.38,非病灶侧平均值为0.48,两者平均值相差0.1.在锥体束受累及的4例中,有偏侧肢体运动功能障碍.结论 额前叶神经束受损,可以产生认知功能的部分缺失,受损的额前叶神经束,远端4～8周后可发生华勒氏变性,表现为T1W1等低信号,T2W1、FLAIR高信号,DWI呈等或稍高信号.通过测量远端神经束的FA值可以判定神经束受损的程度.累及锥体束的患者可以导致偏侧肢体运动功能障碍.磁共振DTI技术对诊断额前叶神经束的损伤导致的认知功能部分损伤有一定的意义.

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