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Thickness Dispersion of Surface Plasmon of Ag Nano-thin Films: Determination by Ellipsometry Iterated with Transmittance Method

机译：银纳米薄膜表面等离激元的厚度色散：透射法迭代椭偏法测定。

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Effective optical constants of Ag thin films are precisely determined with effective thickness simultaneously by using an ellipsometry iterated with transmittance method. Unlike the bulk optical constants in Palik's database the effective optical constants of ultrathin Ag films are found to strongly depend on the thickness. According to the optical data two branches of thickness dispersion of surface plasmon energy are derived and agreed with theoretical predication. The thickness dispersion of bulk plasmon is also observed. The influence of substrate on surface plasmon is verified for the first time by using ellipsometry. The thickness dependent effective energy loss function is thus obtained based on this optical method for Ag ultrathin films. This method is also applicable to other ultrathin films and can be used to establish an effective optical database for ultrathin films.
机译：通过使用透射法迭代的椭圆偏振法，可以同时有效厚度精确地确定Ag薄膜的有效光学常数。与Palik数据库中的整体光学常数不同，发现超薄Ag薄膜的有效光学常数在很大程度上取决于厚度。根据光学数据，推导出表面等离激元能量的厚度色散的两个分支，并与理论预测相符。还观察到本体等离子体激元的厚度分散。首次通过椭圆偏振法验证了底物对表面等离激元的影响。因此，基于这种用于Ag超薄膜的光学方法，获得了取决于厚度的有效能量损失函数。该方法也适用于其他超薄膜，并可用于建立超薄膜的有效光学数据库。

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