机译:硅/氮化硅和氮化硅/氧化硅界面的价带偏移
机译:实验测定多孔硅的能带隙能和多孔硅晶体硅异质结处的带隙
机译:无需额外偏置掩膜的新型偏置栅多晶硅薄膜晶体管
机译:C-V匹配法测定氢化纳米晶硅/晶体硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂阳硅杂硅杂硅杂差二极管的偏移密度
机译:碳补偿和认证:补偿供应商如何以及为何选择认证。
机译:材料异质性导致的缺陷对多晶硅MEMS结构偏移的影响
机译:晶体硅和非晶硅(亚)氧化物之间的异质结的价带偏移(A-SiOx:H,0
机译:碳化硅压力传感器中的温度感应电压偏移漂移。