• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Applied Surface Science >Measurement of energy dissipation between tungsten tip and Si(100)-(2 x 1) using sub-Angstrom oscillation amplitude non-contact atomic force microscope
【24h】

Measurement of energy dissipation between tungsten tip and Si(100)-(2 x 1) using sub-Angstrom oscillation amplitude non-contact atomic force microscope

机译：使用亚埃振荡振幅非接触原子力显微镜测量钨尖端与Si（100）-（2 x 1）之间的能量耗散

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Energy dissipation plays an important role in non-contact atomic force microscopy (nc-AFM), atomic manipulation and friction. In this work, we studied atomic scale energy dissipation between a tungsten tip and Si(1 0 0)-(2 x 1) surface. Dissipation measurements are performed with a high sensitivity nc-AFM using sub-Angstrom oscillation amplitudes below resonance. We observed an increase in the dissipation as the tip is approached closer to the surface, followed by an unexpected decrease as we pass the inflection point in the energy-distance curve. This dissipation is most probably due to transformation of the kinetic energy of the tip into phonons and heat. (C) 2003 Elsevier Science B.V. All rights reserved. [References: 13]
机译：能量耗散在非接触式原子力显微镜（nc-AFM），原子操纵和摩擦中起着重要作用。在这项工作中，我们研究了钨尖端与Si（1 0 0）-（2 x 1）表面之间的原子尺度能量耗散。耗散测量是使用低于共振的亚埃振荡幅度，通过高灵敏度nc-AFM进行的。我们观察到，随着针尖越靠近表面，耗散会增加，而当我们通过能量距离曲线中的拐点时，其耗散会意外地减少。这种耗散最可能是由于尖端的动能转化为声子和热量。 （C）2003 Elsevier Science B.V.保留所有权利。 [参考：13]

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号