机译:变温扫描隧道显微镜原位观察6H-SiC(0 0 0 1)氧诱导的各向异性表面刻蚀过程
Research Center for Ultrahigh Voltage Electron Microscopy, Osaka University, 7-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan;
silicon carbide; surface etching; scanning tunneling microscopy; in situ observation;
机译:利用可变低温扫描隧道显微镜对硅表面上的苯分子进行成像和处理
机译:变温扫描隧道显微镜在Ag(110)上直接观察C_2碳氢氧配合物
机译:使用超高真空可变温度原子力和扫描隧道显微镜在原子分辨率下进行比较表面研究
机译:扫描隧道显微镜观察甘蓝对甘蓝和6H-SIC
机译:用可变温度扫描隧道显微镜研究硅表面的原子尺度化学
机译:可变温度下热电偶微电极在扫描电化学显微镜中的集成:同时进行温度和电化学成像及其动力学研究
机译:变温扫描探针显微镜中样品探针的传热机理及温度对隧穿电流的影响
机译:用于原位火星表面样品分析的小型化变压扫描电子显微镜(mVp-sEm)。