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Testing embedded memories in telecommunication systems

机译：测试电信系统中的嵌入式存储器

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摘要

Extensive system testing is mandatory nowadays to achieve high product quality. Telecommunication systems are particularly sensitive to such a requirement; to maintain market competitiveness, manufacturers need to combine reduced costs, shorter life cycles, advanced technologies, and high quality. Moreover, strict reliability constraints usually impose very low fault latencies and a high degree of fault detection for both permanent and transient faults. This article analyzes major problems related to testing complex telecommunication systems, with particular emphasis on their memory modules, often so critical from the reliability point of view. In particular, advanced BIST-based solutions are analyzed, and two significant industrial case studies presented.
机译：为了实现高质量的产品，如今必须进行广泛的系统测试。电信系统对这种要求特别敏感；为了保持市场竞争力，制造商需要结合降低成本，缩短使用寿命，先进技术和高质量的要求。此外，严格的可靠性约束通常对永久性故障和瞬态故障都施加非常低的故障等待时间和较高的故障检测率。本文分析了与测试复杂的电信系统有关的主要问题，尤其着重于它们的存储模块，这些模块从可靠性的角度来看通常非常关键。特别是，分析了基于BIST的高级解决方案，并提出了两个重要的工业案例研究。

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