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【24h】

Matching Discrete Signals for Hardware-in-the-Loop-Testing of PLCs

机译:匹配离散信号以进行PLC的硬件在环测试

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摘要

Executing Hardware-in-the-Loop (HiL) tests means to compare the actual behavior of a System Under Test (SUT) against a specification of its desired behavior, specified by the tester. The behavior of the SUT is available in form of time- and value-discrete signals coming from the SUT’s I/O-modules. The HiL simulator compares these signals to reference signals, defined by the specification. Our approach performs this comparison by matching signal pairs, i.e. matching the actual and reference signal. We apply tolerances in order to allow the actual signal to deviate from the reference without causing the test to fail.
机译:执行硬件在环(HiL)测试意味着将被测系统(SUT)的实际行为与测试人员指定的预期行为规范进行比较。 SUT的行为以来自SUT I / O模块的时间和价值离散信号的形式提供。 HiL仿真器将这些信号与规范定义的参考信号进行比较。我们的方法通过匹配信号对(即匹配实际信号和参考信号)来执行该比较。我们采用公差以使实际信号偏离参考值而不会导致测试失败。

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