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PIXE and Its Applications to Elemental Analysis

机译：PIXE及其应用于元素分析的应用

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When charged particles collide with atoms, atomic inner shell electrons become ionized, producing characteristic X-rays. This phenomenon is called particle-induced X-ray emission (PIXE). The characteristic X-ray production cross-sections from PIXE are very large, and the characteristic X-rays of elements contained in a sample are easily measured by a Silicon detector with a high energy resolution. Hence, sodium to uranium can be detected with a sensitivity of ppb~ppm, and PIXE has been applied to trace element analysis. Scanning ion beams can be used to obtain the spatial distributions of elements in a sample. Furthermore, the distributions of elements inside a cell can be investigated using micro ion beams. PIXE analysis is a very useful technique for multi-elemental analysis and is now widely used in many fields and applications, including chemistry, medicine, biology, archaeology, agriculture, materials science, fisheries science, geology, petrology, environmental study, contamination monitoring, resource search, semiconductors, metal, astrophysics, earth science, criminal investigations, and food.
机译：当带电粒子与原子碰撞时，原子内壳电子变成电离，产生特征X射线。这种现象称为粒子诱导的X射线发射（PIXE）。来自PIXE的特征X射线产生横截面非常大，并且通过具有高能量分辨率的硅检测器容易地测量样品中包含的元素的特征X射线。因此，可以通过PPB〜PPM的灵敏度检测到铀钠，并且PIXe已经应用于痕量元素分析。扫描离子束可用于获得样品中的元素的空间分布。此外，可以使用微离子束来研究电池内部元件的分布。 Pixe分析是一种非常有用的多元素分析技术，现在广泛应用于许多领域和应用，包括化学，医学，生物学，考古学，农业，材料科学，渔业科学，地质学，环境研究，污染监测，资源搜索，半导体，金属，天体物理学，地球科学，刑事调查和食物。

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