...
首页> 外文期刊>Elektronika >Kontrola lutowności materiałów i podzespołów elektronicznych metodą meniskograficzną
【24h】

Kontrola lutowności materiałów i podzespołów elektronicznych metodą meniskograficzną

机译:通过弯月面法控制电子材料和组件的可焊性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Omówiono metodę meniskograficzną jako narzędzie służące do badania lutowności materiałów (stopów, topników, powłok płytek drukowanych) i wyprowadzeń podzespołów stosowanych w procesach lutowania sprzętu elektronicznego. Przedstawiono najnowsze osiągnięcia w tym zakresie, poparte wynikami badań na meniskografie Me-nisco ST88 z opcją pomiarów w atmosferze ochronnej.
机译:弯月面法作为测试材料(合金,助焊剂,印刷电路板涂层)和电子设备焊接过程中使用的组件的可焊性的工具进行了讨论。展示了该领域的最新成就,并得到了Me-nisco ST88弯月面仪的结果的支持,并可选择在保护性气氛中进行测量。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号