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首页> 外文期刊>IEEE Transactions on Circuits and Systems. II >Adaptive digital correction of analog errors in MASH ADCs. II. Correction using test-signal injection
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Adaptive digital correction of analog errors in MASH ADCs. II. Correction using test-signal injection

机译：MASH ADC中模拟错误的自适应数字校正。二。使用测试信号注入进行校正

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For pt. I see ibid., vol. 47, no. 7, p. 621-8 (2000). This part describes a different adaptation strategy. It relies on the injection of a pseudorandom two-level test signal at the input of the first-stage quantizer, where it is added to the quantization noise. The test signal then leaks into the output signal, where it can be detected and used to control the digital noise-cancellation filter. This paper describes the correction process, as well as some efficient structures for implementing it, and demonstrates the effectiveness of the technique by describing three design examples.
机译：对于pt。我看同上。 47，没有7，第621-8（2000）。此部分描述了不同的适应策略。它依赖于在第一级量化器的输入端注入伪随机两级测试信号，然后将其添加到量化噪声中。然后，测试信号泄漏到输出信号中，在该信号中可以对其进行检测并用于控制数字噪声消除滤波器。本文介绍了校正过程以及实现它的一些有效结构，并通过描述三个设计示例来演示该技术的有效性。

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