机译:商品设备中基于衰减的DRAM PUF
Tech Univ Darmstadt D-64289 Darmstadt Hessen Germany;
Yale Univ New Haven CT 06520 USA;
Eindhoven Univ Technol Dept Math & Comp Sci NL-5612 AZ Eindhoven Netherlands;
Yale Univ Elect Engn Comp Architecture & Secur Lab CAS Lab New Haven CT 06520 USA;
Physically unclonable functions; helper data schemes; device authentication;
机译:商品设备中衰减的DRAM PUFS
机译:商品设备上的快速DRAM PUFS
机译:D-PUF:用于设备认证和随机数生成的本质可重新配置DRAM PUF
机译:DRAM延迟PUF:通过利用现代商品DRAM设备中的延迟-可靠性权衡,快速评估物理不可克隆的功能
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:商品设备中的固有物理不可克隆功能(PUF)传感器
机译:商品设备上的快速DRAM PUFS
机译:在以下问题中:某些探针卡组件,其组件以及某些经过测试的DRam和NaND闪存设备以及包含它们的产品。第337-Ta-621号调查