机译:低接触压力(<1 MPa)下的热隙电导:镀金和镀层厚度的影响
Department of Instrumentation and Applied Physics, Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
rnDepartment of Instrumentation and Applied Physics, Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
thermal gap conductance; OFHC Cu; brass; thin gold plating;
机译:薄镀金触头中的电接触电阻:镀金厚度的影响
机译:固定电触点所需的镀金厚度的比较评估
机译:在热时效过程中增加硬金镀层的接触电阻-镍硬化金和钴硬化金-
机译:热盖金镀层厚度对倒装芯片封装热界面可靠性的影响
机译:铝砷化镓发光二极管的欧姆接触技术:镀金和引线键合。
机译:使用戈德曼压平法和非接触式眼压计测量中央角膜基质厚度和上皮厚度对眼压的影响
机译:在氧等离子体激活的金晶种层上进行选择性化学镀镍,以制造低接触电阻的通孔和微结构