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机译:暴露于极紫外辐射下的化学放大抗蚀剂工艺中的反接触效应
The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, 8-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan;
The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, 8-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan;
Nissan Chemical Industries, Ltd., 635 Sasakura, Fuchu, Toyama 939-2792, Japan;
Nissan Chemical Industries, Ltd., 635 Sasakura, Fuchu, Toyama 939-2792, Japan;
Nissan Chemical Industries, Ltd., 635 Sasakura, Fuchu, Toyama 939-2792, Japan;
机译:基于极紫外辐射下聚合物脱保护的化学放大抗蚀剂中产生的化学梯度的理论研究
机译:阴离子结合化学放大的抗蚀剂在暴露于极紫外辐射下的酸量子效率
机译:在暴露于极端紫外线辐射时,阴离子结合的阴离子结合的酸量子效率
机译:暴露于极紫外辐射下的化学放大的抗蚀剂中的溶解动力学和脱保护反应
机译:砷化镓晶片的表面化学研究在化学放大的抗蚀剂构图过程中进行,并通过荧光进行抗蚀剂研究。
机译:通过使用非化学放大的抗蚀剂和曝光后烘烤来制造具有改善的线边缘粗糙度的高分辨率掩模
机译:在暴露于极端紫外线辐射时,阴离子结合的阴离子结合的酸量子效率