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Epitaxial AIN on c-plane sapphire by plasma nitriding

机译:通过等离子氮化在C平面蓝宝石上外延AIN

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摘要

Nitridation of sapphire to form epitaxial AlN by microwave plasma containing nitrogen gas has been investigated to be an efficient process. Structural characterization with chemical analysis by X-ray diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy shows that an epitaxial AlN film containing oxygen can form on sapphire by using pure nitrogen plasma. Furthermore, nitridation with N-2/H-2 plasma not only improves the crystallinity of the epitaxial AlN film without oxygen, but also significantly increases the nitridation rate to 9 nm min(-1), resulting in 270 nm thick AlN for 30 min plasma nitriding. (C) 2019 The Japan Society of Applied Physics
机译:已经研究了含有氮气的微波血浆形成外延Aln的蓝宝石的氮化是有效的过程。通过X射线衍射和X射线光电子能力与化学分析的结构表征表明,通过使用纯氮等离子体,含有氧的外延Aln膜可以在蓝宝石上形成。此外,具有N-2 / H-2等离子体的氮化不仅改善了外延Aln膜的结晶度,而且还显着增加了9nm min(-1)的氮化速率,导致270nm厚的Aln持续30分钟等离子体氮化。 (c)2019年日本应用物理学会

著录项

  • 来源
    《Japanese journal of applied physics》 |2019年第sc期|SC1012.1-SC1012.6|共6页
  • 作者

    Chen Yi-Chun; Chang Li;

  • 作者单位

    Natl Chiao Tung Univ Dept Mat Sci & Engn Hsinchu Taiwan;

    Natl Chiao Tung Univ Dept Mat Sci & Engn Hsinchu Taiwan;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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