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机译:侧面敏感的修改组运行控制图以检测过程平均值的变化
Department of Statistics, University of Pune, Pune, Maharashtra 411007, India;
SAS Research and Development (India), Analytical Data Modeler, Pune, Maharashtra 411006, India;
Department of Statistics, University of Botswana, Gaborone, Botswana;
average time-to-signal; CRL chart; EWMA chart; GR chart; MGR chart; SSGR chart; steady-state ATS; synthetic chart;
机译:侧面敏感的修改组运行控制图以检测过程平均值的变化
机译:侧面敏感的修改组运行双重采样(SSMGRDS)控制图,用于检测均值漂移
机译:修改后的组运行控制图以检测分数不符合项的增加和过程平均值的偏移
机译:边敏感组运行图表,用于使用辅助信息检测平均移位
机译:神经网络模型,用于检测控制图中的并发异常模式,并为过程能力指数估算器开发较短且无偏差的间隔。
机译:基于预期平均运行时间的最佳估计工艺参数侧敏感组运行图
机译:最佳估计过程参数侧视敏感组根据预期的平均运行长度运行图表