...
首页> 外文期刊>Journal of Crystal Growth >Optimizing dopant activation in Si:P double 5-layers
【24h】

Optimizing dopant activation in Si:P double 5-layers

机译:优化Si:P双5层中的掺杂剂活化

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

We investigate the optimal encapsulation conditions for obtaining fully activated, double δ-layers of phosphorus in silicon. Using scanning tunneling microscopy and low-temperature magnetotransport we have explored whether it is important to optimize the maximal dopant incorporation of each individual layer or the smoothness of the surface on which we form the second dopant layer to achieve maximum total bilayer carrier density. We find maintaining crystallinity of the interstitial spacer layer is of paramount importance. In doing so, we are able to achieve double 8-layers with high dopant activation resulting in a maximum carrier density of 4.35 × 10~(14)cm~(-2).
机译:我们研究了在硅中获得完全活化的双δ磷双层的最佳封装条件。使用扫描隧道显微镜和低温磁传输,我们已经探索了优化每个单独层的最大掺杂量或形成第二个掺杂层的表面的光滑度以实现最大的总双层载流子密度是否重要。我们发现保持间隙间隔层的结晶度至关重要。这样,我们就可以实现双8层高掺杂剂活化,从而产生最大载流子密度为4.35×10〜(14)cm〜(-2)。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号