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机译:快速热退火对具有不同InAs沉积厚度的InAs / InAlAs / InP量子线的影响
Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China;
annealing; dislocations; photoluminescence; molecular beam epitaxy; quantum wires; semiconducting III-V material; MOLECULAR-BEAM EPITAXY; OPTICAL-PROPERTIES; SURFACE-MORPHOLOGY; INP SUBSTRATE; DOTS; PHOTOLUMINESCENCE; INP(001); TEMPERATURE; ISLANDS; STRAIN;
机译:具有不同InAs沉积厚度的自组装InAs / InAlAs / InP量子线的光学性质
机译:出版者注:“层分离,InAs厚度和快速热退火对多层量子线结构的光发射的影响” [J.应用物理109,124311(2011)]
机译:层分离,InAs厚度和快速热退火对多层量子线结构的光发射的影响
机译:快速热退火调整自组装INAS / INP量子点的电子特性
机译:InAs / GaAs量子点太阳能电池和InAs纳米线在光伏器件中的应用的光学和机械研究。
机译:通过快速热退火改善1.3μmInAs / GaAs量子点激光器中的基态调制特性
机译:自组装InAs / InAlAs / InP(001)量子线的拉曼研究