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机译:从通过等离子体辅助分子束外延生长的未掺杂和掺Si的InN薄膜的光致发光特性估算本征InN的带隙能
Natl Inst Informat & Commun Technol, Koganei, Tokyo 1848795, Japan;
molecular beam epitaxy; nitrides; semiconducting III-V materials; semiconducting indium compounds; ELECTRON-TRANSPORT; WURTZITE INN; LAYER; ALN;
机译:等离子体辅助分子束外延法测量In / N比变化的InN外延膜的光致发光和X射线衍射测量
机译:等离子体辅助分子束外延生长的垂直排列的InN纳米棒的异常光致发光特性
机译:用单能正电子束探测等离子体辅助分子束外延生长的Si掺杂InN中的空位型缺陷
机译:从SI(111)和蓝宝石(0001)基板上的INN 2.2eV附近的可见排放由电子回旋谐振等离子体辅助分子束外延
机译:等离子体辅助分子束外延的Inn / GaN多量子孔的生长和行为
机译:等离子体辅助分子束外延制备含CrN纳米岛的InN纳米棒
机译:等离子辅助分子束外延在O形ZnO(0001)上生长的INN薄膜的结构特性
机译:分子束外延生长直接和间接带隙alxGa1-xas合金的单声子拉曼光谱和光致发光研究。