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机译:通过CSD处理在Pt / Ti / SiO2 / Si(100)衬底上生长的BNT薄膜的光学特性
Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Ceram, State Key Lab High Performance & Superfine Micros, Shanghai 200050, Peoples R China;
characterization; X-ray diffraction; chemical solution deposition; bismuth compounds; photorefractive materials; METALORGANIC CHEMICAL-VAPOR; SOL-GEL PROCESS; SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY; IMPURITY BAND; MICROSTRUCTURE; PBZRXTI1-XO3; ABSORPTION; SILICON;
机译:通过低温处理在Pt / Ti / SiO2 / Si衬底上生长的Ba(ZrxTi1-x)O-3薄膜的结构相关红外光学性能
机译:在Pt(111)/ Ti / SiO2 / Si(100)衬底上制造的掺杂Li的ZnO薄膜的结构,电学和光学性质
机译:生长在Si和Pt / Ti / SiO2 / Si衬底上生长的Bi过量Bi4Ti3O12薄膜的微观结构和铁电性能
机译:通过溶胶-凝胶法在Si(100)衬底上生长的(Zr_(0.8),Sn_(0.8))TiO4薄膜的微观结构和光学性质
机译:通过脉冲激光沉积和溶胶-凝胶法控制氧化锌薄膜的电阻率和光学性质。
机译:Si(100)衬底上的半极性r平面ZnO薄膜:薄膜外延和光学性质
机译:RF磁控溅射在SiO2 / Si(100)基板上生长的ZnO薄膜的结构和光学性质
机译:应变对Ls-mOCVD在pt / siO2 / si上生长的(Ba,sr)Ti1 + xO3薄膜介电性能的影响