机译:温度对倒装芯片互连非导电粘合剂固化收缩率测量的影响
School of Materials Science & Engineering, Nanyang Technological University, Singapore 639798;
机译:倒装芯片与各向异性和非导电薄膜互连的微波性能
机译:键合参数对柔性倒装芯片封装组件各向异性导电胶互连件可靠性性能的影响I.不同键合温度
机译:使用局部被非导电胶包围的互锁接合结构的倒装芯片工艺
机译:用于倒装芯片互连的非导电粘合剂的机械性能和固化应力的演变
机译:使用用于高温电子学的银-铟系统和银倒装芯片互连技术的无助焊工艺。
机译:MEMS设备上的倒装芯片的新型第一级互连技术
机译:非导电粘合剂互连中固化应力的研究
机译:极端低温(-190摄氏度和-120摄氏度)下高级倒装芯片互连电子封装组件的可靠性评估