机译:未来用于CNT互连的介电材料-可能性和挑战
School of Electrical Engineering VIT University;
School of Electrical Engineering VIT University;
Dielectric Constant; Ultra Low-K Dielectrics; Interconnects; Carbon Nanotubes; Low-K Dielectric Materials;
机译:与未来建筑材料相关的挑战和可能性
机译:CNT的性能分析作为未来VLSI互连的应用
机译:合作应用超低k电介质和高k介电材料,用于耦合多层石墨烯纳米架互连的性能增强
机译:低于20 nm技术节点的互连材料挑战:超低k电介质
机译:硅上高k电介质和互连材料的表面和界面化学。
机译:致力于具有高介电常数和低损耗的柔性介电材料:具有均相分散的CNT和离子液体纳米域的PVDF纳米复合材料
机译:积累PWB的现在与未来 - 他们的可能性和限制。电流介电材料用于堆积印刷线路板及其挑战。