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Visualizing graphene edges using tip-enhanced Raman spectroscopy

机译：使用尖端增强拉曼光谱法可视化石墨烯边缘

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摘要

The edges of a single layer graphene (SLG) flake play important roles in determining the electronic transport properties of graphene devices. Accurate determination of the phase-breaking lengths (Lσ) near the edges remains to be a significant challenge for near field optical measurements. This article presents an image of graphene edges using high resolution tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) of mechanically exfoliated SLG and reports the value of Lσ (4.2 ± 0.5 nm). The current near-field measurements verify the theoretical value of Lσ and highlight the potential of TERS in characterizing graphene at the nanoscale.
机译：单层石墨烯（SLG）薄片的边缘在确定石墨烯器件的电子传输特性中起着重要作用。对于近场光学测量，准确确定边缘附近的断相长度（Lσ）仍然是一项重大挑战。本文使用机械剥离的SLG的高分辨率尖端增强拉曼光谱（TERS）展示了石墨烯边缘的图像，并报告了Lσ（4.2±0.5 nm）的值。当前的近场测量结果验证了Lσ的理论值，并突出了TERS在表征纳米级石墨烯方面的潜力。

著录项

  • 来源
    《Journal of Vacuum Science & Technology》 |2013年第4期|1-6|共6页
  • 作者

    Su Weitao; Roy Debdulal;

  • 作者单位

    Institute of Materials Physics, Hangzhou Dianzi University, 310018, Hangzhou, China|c|;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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