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走査型力顕微鏡のトライボロジー応用

机译：扫描力显微镜的摩擦学应用

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走査型トンネル顕微鏡(STM,Scanning Tunnelling Microscopy)の発明は，鋭利な探針の機械的走査で原子像が得られることを示したもので，以後，各種プローブ顕微鏡が生まれることとなった．STMによる観察が進むにつれ，トンネル電流に限らず，力を始めとするさまざまな物理量が原子レベルの分布を有することが示唆されるに至った．STMの発明者の一人，G.BINNIGは走査型超音波顕微鏡の発明者の一人，C.QUATEの元に渡り，スタンフォード大学でのサバティカルにおいて走査型力顕微鏡(AFM,Atomic Force Microscopy)を発明した．走査型力顕微鏡は．その名が示すように．力を用いて撮像を行っているので，発明当初からトライボロジーへの応用の可能性が期待されていた．本稿においては，走査型力顕微鏡のトライボロジーへの応用に焦点を当てたい．表面力測定装置(SFA，Surface Force Apparatus)や共振ずり測定法など，トライボロジー研究を支える基本的測定法については文献を参照されたい．
机译：扫描隧道显微镜（STM）的发明表明，可以通过对尖锐探针进行机械扫描获得原子图像，随后诞生了各种探针显微镜。随着通过STM的观察的进行，已经提出不仅隧道电流而且各种物理量例如力也具有原子能级分布。 STM的发明者之一G.BINNIG在扫描超声显微镜的发明者之一C.QUATE的监督下，在斯坦福大学Sabbatical发明了扫描力显微镜（AFM，原子力显微镜）。 。扫描力显微镜。顾名思义。由于成像是用力进行的，因此期望从本发明的开始就将其应用于摩擦学。在本文中，我想重点介绍扫描力显微镜在摩擦学中的应用。请参考文献以获取支持摩擦学研究的基本测量方法，例如表面力测量设备（SFA）和共振剪切测量方法。

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