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机译:使用Si_(1-x)Ge_x双源结构抑制部分耗尽的SOI MOSFET浮体效应的仿真
Department of Physics and Materials Science, City University of Hong Kong, Tat Chee Avenue, Kowloon, Hong Kong;
partially depleted SOI MOSFET; floating body effect; bandgap narrowing; impact ionization;
机译:具有SiGe源极结构的部分耗尽SOI MOSFET的浮体效应抑制及其机理
机译:额外的源极注入可抑制部分耗尽的SOI MOSFET中的浮体效应
机译:用于抑制浮体效应的新型部分耗尽型SOI MOSFET:嵌入式JFET结构
机译:具有SiGe源极结构的SOI MOSFET的浮体效应抑制机理
机译:适用于部分耗尽型绝缘体上硅(SOI)MOSFET的面积有效体接触。
机译:FinFET和带铁电电容器的全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)MOSFET的磁滞窗口研究
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