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Non-destructive characterisation of defects in devices using infrared thermography

机译：使用红外热像仪对设备中的缺陷进行非破坏性表征

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The aim of this work is to develop a reliable and precise non-destructive characterisation method for devices testing using infrared thermography. Our method is aplied to submicronic junction solar cell characterisation. Two types of measurements are tested and compared: a static method and a pulse method. Both give similar results but obviously the pulse method is faster. In order to determine the temperature of the different parts of the structure with accuracy, emissivity and transmission measurements have been performed. An example of the characterisation is presented showing the precision of the method.
机译：这项工作的目的是为使用红外热成像技术的设备测试开发一种可靠且精确的无损表征方法。我们的方法被应用于亚微米级结太阳能电池的表征。测试并比较了两种类型的测量：静态方法和脉冲方法。两者都给出相似的结果，但显然脉冲法更快。为了精确地确定结构不同部分的温度，已经进行了发射率和透射率测量。给出了一个表征示例，说明了该方法的精度。

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