A Method of Accelerating Distributed Test Pattern Generation

Yoshinori NISHIDA; Tamaki TOUMIYA; Takumi KAITE

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A Method of Accelerating Distributed Test Pattern Generation

机译：一种加速分布式测试模式生成的方法

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This paper presents an approach to accelerating distributed Automatic Test Pattern Generation (ATPG) for combinational circuits based on circuit division. In general, there are two major problems in distributed ATPG: unbalanced load and redundant pattern generation. Unbalanced load causes idle processor and reduces the efficiency of parallel computing. Redundant pattern generation increases processing time and pattern length.

机译：本文提出了一种基于电路划分的加速组合电路的分布式自动测试模式生成（ATPG）的方法。通常，分布式ATPG中存在两个主要问题：不平衡负载和冗余模式生成。负载不平衡会导致处理器空闲，并降低并行计算的效率。冗余图案生成会增加处理时间和图案长度。

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来源
《NEC Research & Development》 |2000年第4期|p.345-350|共6页
作者
Yoshinori NISHIDA; Tamaki TOUMIYA; Takumi KAITE;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类通信;
关键词
ATPG (Automatic Test Pattern Generation); Distributed ATPG; Parallel processing;

机译：ATPG（自动测试图案生成）;分布式ATPG;并行处理;

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