机译:CdTe的介电函数和临界点跃迁参数的温度依赖性
机译:在300至803 K的温度下介电函数和AlSb临界点的温度依赖性的椭圆仪研究。
机译:高温超导体的两波段模型及其临界转变温度对模型参数的依赖
机译:介电函数和InSb临界点的温度依赖性(通过椭圆偏振光谱法)从31到675 K
机译:CdS和CdTe的介电功能对晶粒尺寸,应力和温度的分析:在线监测的潜力
机译:用于ULSI互连应用的低k电介质的关键特性和可靠性:厚度和温度依赖性。
机译:单层MoSe2介电功能的温度依赖性
机译:介电函数的温度依赖性和α-Sn的临界点从27到350 k
机译:过渡温度附近超导体有序参数的时间依赖性