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A Microscope System Based On Bevel-axial Method Auto-focus

机译：基于斜轴自动聚焦的显微镜系统

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A microscope system based on bevel-axial method auto-focus (BAM-AFS) is proposed. The purpose is to establish an auto-focus microscope system that calculates the focus position one or many times. In this paper, we propose a bevel-axial method that had an included angle between CCD sensor and image plane with multi-parameters fusing from image to obtain the in-focus position directly in the first phase and combined Kalman estimate to obtain the in-focus position for different objects in the second phase. We discuss the relation between focus positions and image focus at the end.
机译：提出了一种基于斜轴自动聚焦的显微镜系统（BAM-AFS）。目的是建立一种自动聚焦显微镜系统，该系统可以一次或多次计算聚焦位置。在本文中，我们提出了一种斜轴方法，该方法在CCD传感器和图像平面之间具有一个夹角，并从图像中融合出多个参数，从而直接在第一相中获得聚焦位置，然后结合Kalman估计来获得第二阶段中不同对象的焦点位置。最后讨论焦点位置与图像焦点之间的关系。

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