• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Optics Letters >Analysis of depth-of-focus of synthetic aperture antenna arrays
【24h】

Analysis of depth-of-focus of synthetic aperture antenna arrays

机译：合成孔径天线阵列的聚焦深度分析

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Interferometric synthetic aperture arrays (SAA) can be refocused at any range via digital processing of the raw data,ncalled the visibility function. Such systems are sensitive, however, to ranging errors in digital refocusing. They,ntherefore, exhibit a limited depth of focus, because these errors are equivalent to introducing defocus in the system.nWe derive an analytical expression for the Strehl ratio of synthetic aperture arrays, which accounts for bothnthe antenna voltage pattern and the focal shift factor encountered in imaging systems with a low Fresnel number.nAssessment of the depth of focus of short-range imaging arrays is allowed and is illustrated for common arrayndesigns.
机译：干涉式合成孔径阵列（SAA）可以通过原始数据的数字处理（称为可见性功能）重新聚焦在任何范围。然而，这样的系统对数字重聚焦中的测距误差敏感。因此，它们的聚焦深度有限，因为这些误差等效于在系统中引入散焦。n我们导出了合成孔径阵列的Strehl比的解析表达式，该表达式同时考虑了天线电压方向图和遇到的焦点偏移因子在低菲涅耳数的成像系统中。n允许评估短距离成像阵列的焦深，并针对常见的阵列设计进行了说明。

著录项

  • 来源
    《Optics Letters》 |2010年第12期|p.2046-2048|共3页
  • 作者

    Bertrand M. Lucotte and Andrew R. Harvey;

  • 作者单位

    School of Engineering and Physical Sciences, Heriot-Watt University, Edinburgh EH14 4AS, UK*Corresponding author: bl13@hw.ac.uk;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号