...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Organic Electronics >Prevention of short circuits in solution-processed OLED devices
【24h】

Prevention of short circuits in solution-processed OLED devices

机译：防止溶液处理的OLED装置发生短路

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Pinholes in the emitting layer of an organic light emitting diode (OLED), e.g. induced by particle contamination or processing flaws, lead to direct contact between the hole-injection layer (HIL) and the cathode. The resulting short circuits give rise to catastrophic device failure. We demonstrate that these short circuits can be effectively prevented by an oxidative treatment of the HIL with aqueous sodium hypochlorite (NaClO_((aq)), bleach), which locally lowers the conductivity of the HIL (i.e. poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfo-nate) (PEDOT:PSS)) by more than eight orders of magnitude while leaving the emitting layer virtually unaffected. The oxidizer treatment is evidenced by an order of magnitude reduction in leakage current and strong reduction in the number of bright spots in the emitting area, without affecting the device lifetime. Diode behavior is even recovered in deliberately flawed devices containing 80 μm sized defects.
机译：例如，有机发光二极管（OLED）的发光层中的针孔。由颗粒污染或加工缺陷引起的腐蚀会导致空穴注入层（HIL）与阴极直接接触。造成的短路会导致灾难性的设备故障。我们证明，通过用次氯酸钠水溶液（NaClO _（（aq）），漂白剂）对HIL进行氧化处理，可以有效地防止这些短路，这会局部降低HIL的电导率（即，聚（3,4-乙撑二氧噻吩） ：聚（苯乙烯磺酸盐）（PEDOT：PSS））的数量级超过八个数量级，而发光层实际上不受影响。通过在不影响器件寿命的情况下，漏电流减小一个数量级并在发射区域中大大减少亮点数量来证明氧化剂的处理。二极管行为甚至可以在包含80μm尺寸缺陷的故意缺陷器件中恢复。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号