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机译:用LEED结构测定氢封端的4H-SIC(0001)
Kyushu Univ Dept Appl Quantum Phys & Nucl Engn Fukuoka Fukuoka 8190395 Japan;
Kyushu Univ Dept Appl Quantum Phys & Nucl Engn Fukuoka Fukuoka 8190395 Japan;
Kyushu Univ Dept Mol & Mat Sci Kasuga Fukuoka 8168580 Japan;
Kyushu Univ Dept Mol & Mat Sci Kasuga Fukuoka 8168580 Japan;
Kyushu Univ Dept Appl Quantum Phys & Nucl Engn Fukuoka Fukuoka 8190395 Japan;
机译:LEED法测定氢封端的4H-SiC(0001)的结构
机译:用LEED结构测定氢封端的4H-SIC(0001)
机译:通过电子轰击还原V2O3(0001)表面-使用I / V-LEED进行定量结构测定
机译:STM / LEED,XPS的4H-SIC(0001)工艺表面的原子结构分析
机译:锆(0001)表面吸附氧的LEED晶体学研究
机译:表面改性和磨料抛光之间的竞争:控制4H-SiC表面原子结构的方法(0001)
机译:通过电子轰击减少V 2 sub> O 3 sub>(0001)表面 - 使用I / V-LEED进行定量结构测定