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【24h】

デザイン一新基板外観検査装置

机译:重新设计了板外观检查装置

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摘要

レクザムは「ネプコンジャパン2019」に出展し、基板検査装置「Sherlockシリーズ」を中心に紹介する。M型基板対応の2次元検査装置「Sherlock-300I/300F」は、検査部品が標準倍率では0603、高倍率では0402に対応し、検査速度5千平方ミリメートル/秒を実現する。
机译:Rexam将参加“ Nepcon Japan 2019”,并介绍板检测设备“ Sherlock系列”。用于M型基板的Sherlock-300I / 300F二维检查装置支持标准放大率的0603和高放大率的0402的检查组件,并实现5,000平方毫米/秒的检查速度。

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    《电波新闻》 |2019年第17582期|8-8|共1页
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