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Trend of Reliability Qualification Technique of LSIs

机译:LSI可靠性鉴定技术的发展趋势

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摘要

Trend of Reliability Qualification Technique of LSIs
机译:LSI可靠性鉴定技术的发展趋势

著录项

  • 来源
    《RCJ会報》 |2010年第2期|p.7-16|共10页
  • 作者

    Noboru Shiono;

  • 作者单位

    Reliability Center for Electronic Components of Japan;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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