...
首页> 外文期刊>Pomiary Automatyka Kontrola >14 Międzynarodowy Kongres Metrologii, Paryż 2009
【24h】

14 Międzynarodowy Kongres Metrologii, Paryż 2009

机译:2009年,第14届国际计量学大会

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

14 Międzynarodowy Kongres Metrologiczny, który odbył się w Paryżu w dniach 22-25 czerwca 2009 roku. by! największym i najważniejszym - obok lizbońskiego Kongresu JMEKO tegorocznym spotkaniem metrologów. Obrady odbywały się w nowoczesnym centrum konferencyjnym Le Palais des Congres de Paris.rnOrganizatorem imprezy był College France de Metrologie (CFM). Choć nazwa sugeruje, że jest to uczelnia, w rzeczywistości CFM jest wyspecjalizowaną instytucją zajmującą się transferem wiedzy i innowacjami w dziedzinie metrologii. Tegoroczny Kongres odbywał się pod ogólnym hasłem „ Wartość dodana poprzez lepsze pomiary". Zagadnienie to wpisuje się w tematykę związaną z zastosowaniem metrologii w przemyśle i w biznesie, podejmowaną w ostatnich latach na świecie m. in. podczas takich ważnych konferencji jak „Measurement Science Conference" czy „NCSLI Conference" w Stanach Zjednoczonych.
机译:第14届国际计量大会于2009年6月22日至25日在巴黎举行。至!今年的计量学家会议在里斯本JMEKO大会旁边举行。该会议在巴黎会议中心现代会议中心举行,由法国计量学院(CFM)组织。尽管顾名思义,它是一所大学,但实际上CFM是专门从事计量学领域知识转让和创新的专门机构。今年的大会以“通过更好的测量来增加价值”的口号举行,这是近年来在世界范围内举行的有关计量学在工业和商业中应用的主题的一部分,包括在“计量科学会议”等重要会议期间。或“ NCSLI会议”在美国。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号