机译:功率半导体器件质量的无损检测的现代方法和手段
North Caucasus Federal University, pr. Kulakova 2, Stavropol, 355029 Russia;
Stavropol State Agrarian University, Zootekhnicheskii per. 12, Stavropol, 355017 Russia;
Stavropol State Agrarian University, Zootekhnicheskii per. 12, Stavropol, 355017 Russia;
power semiconductor devices; testing of parameters; junction-case thermal resistance; sensor-accelerator;
机译:测试现代功率半导体器件需要现代曲线追踪仪
机译:早期进行结构混凝土质量无损检测的推荐方法-通过无损检测的结构混凝土的质量检测方法第3部分
机译:电容式设备测试的电容方法
机译:半导体器件和集成电路微型连接的光声无损质量控制
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:腹腔镜手术中涉及发光二极管和电源装置定位胃肠道癌的新标记方法
机译:电容式功率半导体器件测试方法
机译:半导体测量技术:用于确保半导体器件完整性的无损检测,重点是声发射技术