机译:碳掺杂GaN的核反应分析:间隙碳是黄色发光的起源
Hosei Univ, Coll Engn, Koganei, Tokyo 1848584, Japan;
semiconductors; point defects; impurities in semiconductors; luminescence; GALLIUM VACANCIES; ION-IMPLANTATION; RAMAN-SCATTERING; PHOTOLUMINESCENCE; DEFECTS;
机译:生长的高电阻GaN和无意掺杂GaN膜中黄色发光的不同来源
机译:氨基分子束外延生长碳掺杂半绝缘GaN的热激发电流光谱和光致发光
机译:金催化纤锌矿GaN纳米线的黄带发射和阴极发光的起源
机译:核反应分析研究中C离子植入ZnO散装单晶的碳含水性评价:低电阻率的起源
机译:修正的统计动态衍射理论:部分弛豫和有缺陷的碳掺杂硅和硅锗异质结构的新型计量分析方法。
机译:关于碳掺杂GaN中供体/受体补偿比的建模在横向GaN功率Hemts中的单一再现击穿电压和电流塌陷
机译:关于碳掺杂GaN中供体/受体补偿比的建模,在横向GaN功率Hemts中的单一再现击穿电压和电流塌陷