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Effets instrumentaux et normalisation des spectres

机译：仪器效果和光谱归一化

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Cet article rend compte des progrès récents réalisés pour calibrer les appareils d'analyse de surface par spectrométrie d'électrons Auger ou de photoélectrons X. Les facteurs instrumentaux qui contrôlent la fonction réponse en intensit╚? et en énergie du spectromètre y sont analysés et les procédures d'acquisition permettant d'améliorer de façon décisive la reproductibilité des mesures sont présentées. Il est ainsi devenu possible d'établir des spectres Auger de r╚érence pratiquement indépendants du système analytique utilisé.%This paper deals with the recent progresses achieved for calibrating surface analysis systems (AES-XPS). Instrumental effects which mainly control the energy-intensity response function of the spectrometer are detailed whilst acquiring procedures leading to significant improvements in the reproducibility of spectral intensity measurements are presented. So new opportunities had occurred for the establishment of true Auger reference spectra (with an accuracy of ±2%) irrespective of the analyser employed.
机译：本文报道了使用俄歇电子或X光电子能谱仪校准表面分析设备的最新进展，控制强度响应功能的仪器因素是什么？分析了光谱仪的能量和能量，并提出了可以果断地提高测量结果可重复性的采集程序。因此，实际上可以独立于所使用的分析系统而建立参考俄歇光谱。％本文涉及校准表面分析系统（AES-XPS）的最新进展。详细介绍了主要控制光谱仪能量强度响应功能的仪器效果，同时介绍了导致光谱强度测量可重复性显着改善的获取程序。因此，无论采用何种分析仪，都为建立真正的俄歇参考光谱（准确度为±2％）带来了新的机遇。

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