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机译:使用安培和电位测量模式比较WO_x / SiC和Pt / WO_x / SiC结构检测氢
Natl Res Nucl Univ MEPhI, Moscow Engn Phys Inst, Kashirskoe Sh 31, Moscow 115409, Russia;
Immanuel Kant Balt Fed Univ, Nevskogo Str 14, Kaliningrad 236016, Russia;
MOSiC sensor; Hydrogen; Tungsten oxide film; Pulsed laser deposition; Amperometric measurements; Potentiometric measurements;
机译:Pt / WO_x / SiC气体传感器结构中脉冲激光沉积形成金属氧化物薄膜层的特征
机译:光学测量和能带结构模型中a-SiC中的能隙状态
机译:使用Pt / WO(x)/ SiC半导体结构执行氢的能量有效检测
机译:PT / WO_X / 6H-SIC传感器在高温下暴露于H_2气体时的结构和电特性的演变
机译:模拟和比较3C-SiC,6H-SiC和4H-SiC纳米线的性能。
机译:交叉层C / SiC与SiC / SiC陶瓷基复合材料的循环磁滞行为比较
机译:al $ _2 $ O $ _3 $ / 4H-siC和al的近界陷阱比较 al $ _2 $ O $ _3 $ / siO $ _2 $ / 4H-siC结构