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机译:分析型透射电子显微镜揭示两种Zr(C,N)涂层之间的微观结构差异
BAM Federal Institute for Materials Research and Testing, Unter den Eichen 87, 12205 Berlin, Germany;
BAM Federal Institute for Materials Research and Testing, Unter den Eichen 87, 12205 Berlin, Germany;
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analytical transmission electron microscopy; tribological coatings; multilayers;
机译:透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜对掺Zr烧结α-Al2O3晶粒随机晶界的分析研究
机译:高分辨率透射电子显微镜,图像模拟,电子能量损失谱,能量过滤透射电子显微镜和近符合现场分析法研究包含壁架的{111}非相干Zr / ZrN界面的结构和组成
机译:通过电子显微镜方法进行等离子体喷涂Ln(2)o(2)O(2)o(2)O(7)热阻挡涂层的微观结构表征
机译:扫描电子显微镜和透射电子显微镜Zr-2.5NB合金的微观结构表征。半自动方法
机译:III-V型化合物半导体材料表征的各种光电子器件的微结构和纳米结构的分析透射电子显微镜和高分辨率电子显微镜。
机译:透射电子显微镜显示的多相Zr8Ni21-Zr7Ni10-Zr2Ni7合金的精细组织
机译:Zr-2.5Nb合金的扫描电子显微镜和透射电子显微镜显微组织表征。半自动方法
机译:用横截面透射电子显微镜研究IaD(离子辅助沉积)和pVD Cr涂层的微观结构