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収差補正装置の琭状と将来

机译:像差校正装置的茧形和未来

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摘要

電子顕微鏡は物質・材料の解析や分析の先端研究から産業rn応用まで幅広く利用されている.顕微鏡のもつ高い空間分解rnは,低温・高温・高圧・真空・液中など多様な環境下での3rn次元構造形態や分光計測さらに動態観察などとあわせて,ナrnノ材料,ナノテク,バイオ分野を牽引している.%Aberration correted electron microscopy (ACEM) has improved resolution to sub-angstrom regime, which allows us to study materials with light elements, with dopants and defects, and with electronic, magnetic and optical functions. Developments of ACEMs and applications that undertaken in the world are briefly reviewed, being focused particularly on 50 pm resolution STEM and TEM instrumentation.
机译:电子显微镜广泛用于材料和材料分析以及工业分析中的高级研究。显微镜的高空间分辨率rn与3rn维度的结构形态和光谱测量以及在各种环境(例如低温,高温,高压,真空和液体中)下的动态观察相结合。领先。 %像差矫正电子显微镜(ACEM)改善了亚埃级的分辨率,这使我们能够研究具有轻元素,掺杂剂和缺陷以及电子,磁性和光学功能的材料。对世界进行了简要回顾,重点关注分辨率为50 pm的STEM和TEM仪器。

著录项

  • 来源
    《真空》 |2008年第11期|691-694|共4页
  • 作者

    高柳邦夫;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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