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电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会
电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会
召开年:
1985
召开地:
江西九江
出版时间:
主办单位:
会议文集:
电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会论文选
会议论文
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1.
EDRIC模型分析系统设计中的可靠性增长
周延昆
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
2.
序贯试验的新方案
丁定浩
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
3.
考虑故障检测的双机热备系统的可靠性分析
袁栩
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
微型计算机;
4.
可靠性最优布局的一个工程方法
谭维康
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性;
5.
系统中元件的结构重要度的简便算法及其应用
陆培恩
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性估计;
6.
鉴别寿命分布类型的树叶图法
陈昭宪
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
7.
超几何分布模型与软件可靠性
黄锡滋
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
8.
两参数Weibull分布尺度参数置信区间的一种构造方法
陈振民
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
9.
截尾数据对数正态分布参数的MLE数表计算
沈士博
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
10.
三重扩散型低频功率晶体管双应力加速方程
张晓庄
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
功率晶体管;
11.
从统计学观点看试验时间等于1.5~2.5倍给定寿命的合理性
王东山
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
12.
集成电路失效机理与可靠性
许康
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
集成电路;
13.
混合集成电路可靠性
郑鹏洲
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
集成电路;
14.
SiO2表面电导的温度、湿度数学模型及其加速因子
张蓓榕
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
数学模型;
15.
国内外碳膜电阻器对比分析的研究
黄桂荣
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
电阻器;
16.
提高钽电解电容器可靠性的一个重要途径
祝松龄
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
电解电容器;
17.
石英晶体谐振器耐振性分析
张淑兰
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
石英;
18.
塑封线性集成电路的加速试验和失效分析
茅有福
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
集成电路;
19.
塑封器件的高温高湿试验失效分析及生产过程中应采取的措施
华汉良
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
失效分析;
20.
硅P-N-P平面晶体管hFE不稳定性探讨
于龙潜
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
失效分析;
21.
高频小功率管EB结雪崩击穿引起的hFE退化纠正措施
徐立生
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
功率晶体管;
22.
硅稳压管和整流管低压击穿的实验分析
张安康
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
稳压器;
23.
大功率晶体管热疲劳分析与研究
赵青云
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
功率晶体管;
24.
用聚酰亚胺钝化的台式PIN光电探测器
顾振球
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
光电探测器;
25.
C波段铝栅GaAs MESFET的失效分析
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
半导体器件;
26.
采用新型导电系统提高薄膜HIC可靠性
尤卫民
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
集成电路;
27.
气密封装IC的湿度监测
骆如仿
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
集成电路;
28.
微电子测试图技术在生产工艺参数监测和可靠性研究中的应用
贾新章
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
集成电路;
29.
全息干涉法的焊点变形测量
李汾
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
全息干涉测量法;
30.
X射线检查在电子元器件分析中的应用
王群勇
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
失效分析;
31.
扫描电镜在半导体器件失效分析中的应用
施明哲
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
半导体器件;
32.
电视机中显象管打火的保护
刘和平
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
电视显象管;
33.
步进应力试验的探讨
冉卫东
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性物理学;
34.
概率比序贯试验在电视机可靠性试验中的应用
邹锋
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
电视;
35.
晶体管功能退化的加速评价
杨家铿
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
晶体管;
36.
微波铁氧体器件的可靠性评价
曹恩荣
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
微波铁氧体器件;
37.
从军标验证试验看器件的质量问题
刘世华
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性标准;
38.
抗辐照筛选和辐照可靠性研究
宋钦岐
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
电子产品可靠性;
39.
论自动电话交换机的可靠性试验与管理
沈菊英
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性标准;
40.
国内外塑封晶体管耐湿性对比试验及失效判据探讨
李向东
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
塑料封装;
41.
可靠性试验新技术
张振杰
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性试验;
42.
加压充氮一次快速检漏法
刘振茂
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
可靠性试验;
43.
继电器瞬态特性测试方法
禹航林
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
继电器;
44.
晶体管集电极串联电阻的测试及在工艺控制和筛选中的应用
魏立文
《电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会》
|
1985年
晶体管;
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