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1.
Symbiotic system models for efficient IOT system design and test
机译:
用于高效物联网系统设计和测试的共生系统模型
作者:
Cheng-Wen Wu
;
Bing-Yang Lin
;
Hsin-Wei Hung
;
Shu-Mei Tseng
;
Chi Chen
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Symbiosis;
Reliability;
Maintenance engineering;
Monitoring;
Energy consumption;
Market research;
Internet of Things;
2.
A run-pause-resume silicon debug technique for multiple clock domain systems
机译:
用于多个时钟域系统的运行暂停恢复芯片调试技术
作者:
Shuo-Lian Hong
;
Kuen-Jong Lee
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Receivers;
Logic gates;
Transmitters;
Debugging;
IP networks;
Flip-flops;
3.
Test item priority estimation for high parallel test efficiency under ATE debug time constraints
机译:
在ATE调试时间限制下,测试项目优先级估算可实现较高的并行测试效率
作者:
Young-woo Lee
;
Inhyuk Choi
;
Kang-Hoon Oh
;
James Jinsoo Ko
;
Sungho Kang
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Testing;
Optimization;
Mathematical model;
Time factors;
Estimation;
Debugging;
Mass production;
4.
Adaptive block-based refresh techniques for mitigation of data retention faults and reduction of refresh power
机译:
基于自适应块的刷新技术,可减轻数据保留故障并降低刷新功率
作者:
Shyue-Kung Lu
;
Hung-Kai Huang
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Random access memory;
Hardware;
Fabrication;
Standards;
Power demand;
Computer architecture;
Maintenance engineering;
5.
A dependable AMR sensor system for automotive applications
机译:
适用于汽车应用的可靠AMR传感器系统
作者:
Andreina Zambrano
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Automotive applications;
Bridge circuits;
Safety;
Mathematical model;
Aging;
6.
A quick jitter tolerance estimation technique for bang-bang CDRs
机译:
爆炸CDR的快速抖动容限估计技术
作者:
Yen-Long Lee
;
Soon-Jyh Chang
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Jitter;
Testing;
Estimation;
Indexes;
Iterative closest point algorithm;
7.
Testing-for-manufacturing (TFM) for ultra-thin IPD on InFO
机译:
InFO上超薄IPD的制造测试(TFM)
作者:
Tang-Jung Chiu
;
Yu-Lun Tseng
;
Yen-Cheng Lin
;
Yi-Chen Wang
;
Hung-Chih Lin
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Stress;
Testing;
Probes;
Silicon;
Rails;
Capacitance;
8.
An integrated design environment of fault tolerant processors with flexible HW/SW solutions for versatile performance/cost/coverage tradeoffs
机译:
容错处理器的集成设计环境,具有灵活的硬件/软件解决方案,可实现多种性能/成本/覆盖范围的权衡
作者:
Yi-Ju Ke
;
Yi-Chieh Ghen
;
Jng-Jer Huang
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Program processors;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Circuit faults;
Hardware;
Instruments;
9.
An automotive MP-SoC featuring an advanced embedded instrument infrastructure for high dependability
机译:
具有先进嵌入式仪器基础设施的高可靠性汽车MP-SoC
作者:
Hans G. Kerkhoff
;
Ghazanfar Ali
;
Hassan Ebrahimi
;
Ahmed Ibrahim
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Instruments;
Monitoring;
Temperature measurement;
Temperature sensors;
Plasma temperature;
Aging;
Timing;
10.
A lightweight X-masking scheme for IoT designs
机译:
物联网设计的轻量级X屏蔽方案
作者:
Daniel Tille
;
Benedikt Gottinger
;
Ulrike Pfannkuchen
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Pins;
System-on-chip;
Timing;
Hardware;
Protocols;
Business;
Silicon;
11.
On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor
机译:
使用数字温度和电压传感器进行实时连续测量的影响
作者:
Yousuke Miyake
;
Yasuo Sato
;
Seiji Kajihara
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Voltage measurement;
Temperature sensors;
Q measurement;
Heating systems;
Temperature measurement;
Oscillators;
System-on-chip;
12.
GPU-accelerated fault dictionary generation for the TRAX fault model
机译:
用于TRAX故障模型的GPU加速故障字典生成
作者:
Matthew Beckler
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Circuit faults;
Logic gates;
Graphics processing units;
Computational modeling;
Integrated circuit modeling;
Kernel;
Instruction sets;
13.
A mathematical model to assess the influence of parallelism in a semiconductor back-end test floor
机译:
评估并行度在半导体后端测试平台中影响的数学模型
作者:
Davide Appello
;
M. Laurino
;
M. Pranzo
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Parallel processing;
Job shop scheduling;
Integrated circuits;
Mathematical model;
Testing;
14.
Test strategy for storage SOCs
机译:
存储SOC的测试策略
作者:
Abhishek Bhattacharya
;
Ramesh Tekumalla
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Testing;
Clocks;
IP networks;
Computer architecture;
Discrete Fourier transforms;
Conferences;
Security;
15.
Evaluation of loop transfer function based dynamic testing of LDOs
机译:
基于环路传递函数的LDO动态测试评估
作者:
Mehmet Ince
;
Ender Yilmaz
;
Jae Woong Jeong
;
LeRoy Winemberg
;
Sule Ozev
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Transfer functions;
Regulators;
Transient analysis;
Testing;
Voltage measurement;
Transient response;
Frequency measurement;
16.
A hybrid concurrent error detection scheme for simultaneous improvement on probability of detection and diagnosability
机译:
用于同时提高检测概率和可诊断性的混合并发错误检测方案
作者:
Chih-Hao Wang
;
Tong-Yu Hsieh
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Observability;
17.
Test generation for open and delay faults in CMOS circuits
机译:
测试生成CMOS电路中的开路和延迟故障
作者:
Cheng-Hung Wu
;
Kuen-Jong Lee
;
Sudhakar M Reddy
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Circuit faults;
Logic gates;
Delays;
Transistors;
Integrated circuit modeling;
Semiconductor device modeling;
Transforms;
18.
Adapting an industrial memory BIST solution for testing CAMs
机译:
调整工业内存BIST解决方案以测试CAM
作者:
Jais Abraham
;
Uttam Garg
;
Glenn Colon-Bonet
;
Ramesh Sharma
;
Chennian Di
;
Benoit Nadeau-Dostie
;
Etienne Racine
;
Martin Keim
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Cams;
Micromechanical devices;
Built-in self-test;
Random access memory;
Arrays;
Heuristic algorithms;
Legged locomotion;
19.
Tutorial I: Topic: Automotive test strategies
机译:
教程I:主题:汽车测试策略
作者:
Yervant Zorian
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Conferences;
Tutorials;
Testing;
Automotive engineering;
Patents;
Business;
Systematics;
20.
Cell-aware test generation time reduction by using switch-level ATPG
机译:
通过使用开关级ATPG来减少具有单元意识的测试生成时间
作者:
Po-Yao Chuang
;
Cheng-Wen Wu
;
Harry H. Chen
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Test pattern generators;
21.
State assignment for fault tolerant stochastic computing with linear finite state machines
机译:
线性有限状态机的容错随机计算状态分配
作者:
Hideyuki Ichihara
;
Motoi Fukuda
;
Tsuyoshi Iwagaki
;
Tomoo Inoue
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Circuit faults;
Transient analysis;
Silicon;
Markov processes;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
22.
Enhancing security of logic encryption using embedded key generation unit
机译:
使用嵌入式密钥生成单元增强逻辑加密的安全性
作者:
Rajit Karmakar
;
Santanu Chattopadhyay
;
Rohit Kapur
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Encryption;
Logic gates;
Foundries;
Integrated circuits;
Hardware;
23.
Physical-aware diagnosis of multiple interconnect defects
机译:
多种互连缺陷的物理感知诊断
作者:
Po-Hao Chen
;
Chi-Lin Lee
;
Jing-Yu Chen
;
Po-Wei Chen
;
James Chien-Mo Li
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Pins;
Circuit faults;
Dictionaries;
Mathematical model;
Logic gates;
Integrated circuit interconnections;
Integrated circuit modeling;
24.
Low-distortion signal generation for analog/mixed-signal circuit testing with digital ATE
机译:
利用数字ATE进行模拟/混合信号电路测试时产生的低失真信号
作者:
Masayuki Kawabata
;
Koji Asami
;
Shohei Shibuya
;
Tomonori Yanagida
;
Haruo Kobayashi
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Harmonics suppression;
Integrated circuits;
Testing;
25.
Fan-out wafer level chip scale package testing
机译:
扇出晶圆级芯片规模封装测试
作者:
Hao Chen
;
Hung-Chih Lin
;
Min-Jer Wang
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Pins;
Gold;
Sockets;
Fingers;
Random access memory;
Reliability;
26.
Trustworthy reconfigurable access to on-chip infrastructure
机译:
可信赖的可重新配置的片上基础架构访问
作者:
Michael A. Kochte
;
Rafal Baranowski
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
IEEE Standards;
Instruments;
Registers;
System-on-chip;
Security;
Multiplexing;
Latches;
27.
Software-hardware-cooperated built-in self-test scheme for channel-based DRAMs
机译:
基于通道的DRAM的软件-硬件合作的内置自检方案
作者:
Tsung-Fu Hsieh
;
Jin-Fu Li
;
Kuan-Te Wu
;
Jenn-Shiang Lai
;
Chih-Yen Lo
;
Ding-Ming Kwai
;
Yung-Fa Chou
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Built-in self-test;
Random access memory;
Clocks;
Delays;
Process control;
Phased arrays;
28.
Speeding up power verification by merging equivalent power domains in RTL design with UPF
机译:
通过将RTL设计中的等效功率域与UPF合并来加快功率验证
作者:
Charles C.-H. Hsu
;
Charles H.-P. Wen
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Merging;
Power system management;
Tools;
Power supplies;
Ports (Computers);
Power control;
Switches;
29.
A fully automatic test system for characterizing large-array fine-pitch micro-bump probe cards
机译:
用于表征大阵列微间距微凸点探针卡的全自动测试系统
作者:
Erik Jan Marinissen
;
Ferenc Fodor
;
Bart De Wächter
;
Jörg Kiesewetter
;
Eric Hill
;
Ken Smith
会议名称:
《2017 International Test Conference in Asia》
|
2017年
关键词:
Probes;
Resistors;
Electrical resistance measurement;
Cameras;
Switches;
Software;
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