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Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
召开年:
1991
召开地:
Bristol(GB)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Focused ion beam damage: its characterisation and minimisation
机译:
聚焦离子束损伤:其特征和最小化
作者:
D Sutton
;
S M Parle
;
S B Newcomb
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
2.
Application of super-resolution by focal series reconstruction to Nd-5Ti_5O_(17)
机译:
超分辨率的应用焦点系重建对ND-5TI_5O_(17)
作者:
K L Langley
;
AI Kirkland
;
R R Meyer
;
J Sloan
;
J L Hutchison
;
M J Sayagues
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
3.
Fringe fields of the Wien-filter aberration corrector for low-voltage SEM
机译:
低压SEM的Wien滤波器像差校正器的边缘领域
作者:
S A M Mentink
;
T Steffen
;
P C Tiemeijer
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
4.
In Situ Environmental Transmission Electron Microscopy of Gas Phase Ziegler-Natta Catalytic Polymerization of Propylene
机译:
原位环境透射电子显微镜的气相齐格勒 - 纳塔催化聚合丙烯
作者:
Peter A. Crozier
;
Vladimir P. Oleshko
;
Alistair D. Westwood
;
Rick D. Cantrell
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
5.
Microstructural and Micro-compositional Analysis of WC/Co and Fe-Cu-C Powder Materials, Prepared by a Microwave Sintering Method.
机译:
通过微波烧结方法制备的WC / CO和Fe-Cu-C粉末材料的微观结构和微型成分分析。
作者:
A J Papworth
;
D K Agrawal
;
J Cheng
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
6.
TEM studies of the in-situ growth of silver metal nanowires from zeolites
机译:
沸石原位生长的TEM研究
作者:
W Zhou
;
M J Edmondson
;
P A Anderson
;
P P Edwards
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
7.
3-dimensional reconstruction from a sequential set of focus ion beam milled 2-dimensional cross-sections
机译:
三维重建从一组序贯的聚焦离子束铣削二维横截面
作者:
R M Langford
;
B J Inkson
;
G Moebus
;
J M Titchmarsh
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
8.
Automated analysis of submicron particles by CCSEM / EDXS -Where are the limits?
机译:
CCSEM / EDXS的亚微米粒子的自动分析 - 限制是极限吗?
作者:
P Poelt
;
S Mitsche
;
T Brunner
;
M Schmied
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
9.
Off-axis electron holography of nanomagnet arrays fabricated by interferometric lithography
机译:
由干涉式光刻制造的纳米磁体阵列的轴轴电子全能
作者:
R E Dunin-Borkowski
;
S B Newcomb
;
M R McCartney
;
C A Ross
;
M Farhoud
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
10.
'DigiTEM' a real time hardware interface for remote operation of the TEM
机译:
“Digitem”一个实时硬件接口,用于TEM的远程操作
作者:
R R Meyer
;
A I Kirkland
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
11.
High spatial resolution interface chemistry investigations on spin tunnel junctions with oxygen ion sputtered barriers
机译:
具有氧离子溅射屏障的高空间分辨率界面化学研究
作者:
D Ozkaya
;
S O Demokritov
;
A K Petford-Long
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
12.
Image restoration of one-dimensional inorganic compounds in single-walled carbon nanotubes
机译:
单壁碳纳米管中一维无机化合物的图像恢复
作者:
S Friedrichs
;
R R Meyer
;
J Sloan
;
A I Kirkland
;
J L Hutchison
;
M LH Green
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
13.
The observations of Widmanstatten γ precipitates in a duplex stainless steel
机译:
Widmanstattenγ沉淀在双相不锈钢中的观察
作者:
H Jiao
;
M Aindow
;
R C Pond
;
M G Hall
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
14.
Nanoscale Structural Analysis of Amorphous Materials
机译:
无定形材料的纳米级结构分析
作者:
W McBride
;
D J H Cockayne
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
15.
3D reconstruction of surface and subsurface structures of solids by SEM stereo images
机译:
SEM立体声图像的3D改建静脉表面和地下结构
作者:
V.N.Sokolov
;
D.IYurkovets
;
V.N.Melnik
;
A.Boyde
;
P.G.T.Howell
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
16.
Surface preparation procedures for contacting GaN
机译:
接触GaN的表面准备程序
作者:
Grigore Moldovan
;
Spyridoula Marlafeka
;
Ian Harrison
;
Paul D. Brown
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
17.
Interfacial reaction products in Al-based metal-matrix composites
机译:
铝金属基复合材料中的界面反应产物
作者:
M MacKenzie
;
G C Weatherly
;
D W McComb
;
A Perovic
;
A J Craven
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
18.
Out-of-zone reflections in coherent CBED
机译:
连贯的带外反射
作者:
C. Dwyer
;
J. Etheridge
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
19.
Oxidation mechanism of PVD TiAlCrYN coating observed by analytical TEM
机译:
分析TEM观察PVD Tialcryn涂层的氧化机理
作者:
Q Luo
;
C Leyens
;
P Eh Hovsepian
;
D B Lewis
;
C P Constable
;
W-D Muenz
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
20.
Characterisation of the structure and composition of quantum dots
机译:
量子点结构和组成的表征
作者:
D J H Cockayne
;
C Lang
;
X Z Liao
;
J Zou
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
21.
Assessment of different focused ion beam milling conditions for the preparation of TEM cross-sections for high-resolution electron microscopy
机译:
用于高分辨率电子显微镜的TEM横截面的不同聚焦离子束铣削条件的评估
作者:
R M Langford
;
D Ozkaya
;
C Kaufman
;
S Gledhill
;
P J Dobson
;
A K Petford-Long
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
22.
The magnetic domain wall width of La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_3 determined from a Fresnel defocus series
机译:
LA_(0.7)CA_(0.3)MNO_3的磁畴壁宽度由菲涅耳散焦系列确定
作者:
J C Loudon
;
S J Lloyd
;
P A Midgley
;
N D Mathur
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
23.
High Resolution TEM Observation of CVD Diamond Films
机译:
CVD金刚石电影的高分辨率TEM观察
作者:
A G Fitzgerald
;
Y Fan
;
C. Kisielowski
;
P John
;
C E Troupe
;
J I B Wilson
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
24.
EELS and HREM study of tunnelling junctions with A1N and A1ON barriers
机译:
EELS和HREM与A1N和A1ON屏障的隧道连接的研究
作者:
Ping Shang
;
Amanda K. Petford-Long
;
Janice H. Nickel
;
Manish Sharma
;
Thomas C. Anthony
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
25.
High spatial resolution tomographic reconstruction from STEM high angle annular dark field (HAADF) images
机译:
茎高角度环形暗场(HAADF)图像的高空间分辨率断层切断重建
作者:
M Weyland
;
J M Thomas
;
R E Dunin-Borkowski
;
P A Midgley
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
26.
Chemical microanalysis of the oxygen-stabilised amorphous phase in a Zr_(50)Cu_(50) alloy using energy dispersive x-ray (EDX) analysis and electron energy-loss spectrometry (EELS)
机译:
使用能量分散X射线(EDX)分析和电子能损谱法(EELS)Zr_(50)Cu_(50)Cu_(50)合金中氧稳定非晶相的化学微量分析
作者:
Z. Y. Liu
;
J. A. Hriljac
;
I. P. Jones
;
I. R. Harris
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
27.
The effects of stray gun scattering in a commercial FEGTEM and its practical removal
机译:
流浪枪散射在商业费用中的影响及其实际拆除
作者:
A J Scott
;
A P Brown
;
A Nichells
;
R Brydson
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
28.
Characterisation of Oxide Anodes for Fuel Cells
机译:
燃料电池氧化物阳极的表征
作者:
J. Canales Vazquez
;
W. Zhou
;
J. T. S. Irvine
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
29.
Microstructural characterisation of TiAlTiAu and TiAlPdAu ohmic contacts on AlGaN/GaN
机译:
Algan / GaN中Tialtiau和Tialpdau欧姆接触的微观结构
作者:
M W Fay
;
I Harrison
;
J C Birbeck
;
B T Hughes
;
M J Uren
;
T Martin
;
P D Brown
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
30.
An investigation of metallic lines produced by an electron beam induced effect in metal-amorphous chalcogenide films
机译:
电子束诱导效应在金属 - 无定形硫属化合物薄膜中产生的金属线的研究
作者:
N Nusbar
;
A G Fitzgerald
;
K Mietzsch
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
31.
Quantification of Fe-oxidation state in mixed valence minerals: a geochemical application of EELS
机译:
混合价矿物中Fe-氧化态的定量:鳗鱼的地球化学应用
作者:
C. C. Calvert
;
R. Brydson
;
D. A. Banks
;
G. E. Lloyd
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
32.
A new method for the determination of the coefficients of the wave aberration function
机译:
一种确定波像差函数系数的新方法
作者:
R R Meyer
;
A I Kirkland
;
W O Saxton
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
33.
Comparison of experimental and simulated images of magnetic elements using Lorentz TEM and MFM
机译:
使用Lorentz TEM和MFM的磁性元件实验性和模拟图像的比较
作者:
S McVitie
;
J Scott
;
G S White
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
34.
Developments in C_s-corrected STEM
机译:
C_S校正阀杆的发展
作者:
A R Lupini
;
O L Krivanek
;
N Dellby
;
P D Nellist
;
S J Pennycook
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
35.
The effect of Ga-doping on the structure and performance of vanadium phosphorus oxide catalysts
机译:
GA掺杂对钒磷氧化催化剂结构和性能的影响
作者:
A. Delimitis
;
A. Burrows
;
C.J. Kiely
;
L. Sartoni
;
G.J. Hutchings
;
J.C. Volta
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
36.
On the high resolution content of elemental maps
机译:
关于元素地图的高分辨率内容
作者:
C J D Hetherington
;
C B Boothroyd
;
R E Dunin-Borkowski
;
J L Hutchison
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
37.
Three-dimensional STEM with nm-scale spatial resolution
机译:
具有NM级空间分辨率的三维茎
作者:
N Tanaka
;
Y Murooka
;
M Koguchi
;
H Kakibayashi
;
R Tsuneta
;
K Kase
;
M Iwaki
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
38.
Prospective Applications for a Double-C_s-Corrector TEM/STEM
机译:
双C_S-校正器TEM / Stem的潜在应用
作者:
G Moebus
;
JM Titchmarsh
;
JL Hutchison
;
CJ Hetherington
;
RC Doole
;
DJH Cockayne
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
39.
Wear Rates and the TEM Characterisation of Polycrystalline Aluminas
机译:
磨损率和多晶硅铝的TEM表征
作者:
F Loughran
;
R Brydson
;
A Bell
;
FL Riley
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
40.
Interface reactions in Ti/Si_(l-x)Ge_x/Si(100) studied by TEM and ADF imaging on a newly installed 200kV TEM/STEM
机译:
TI / SI_(L-X)GE_X / SI(100)中的接口反应由TEM和ADF成像在新安装的200kV TEM / Stem上进行的
作者:
N. Tanaka
;
J.J. Hu
;
J. Yamasaki
;
Y. Murooka
;
S. Zaima
;
Y. Yasuda
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
41.
Quantitative EDX-analysis of PVD hard coatings deposited on sharp edges
机译:
沉积在尖锐边缘上的PVD硬涂层的定量EDX分析
作者:
E.B. Macak
;
W.-D. Muenz
;
J.M. Rodenburg
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
42.
Scanning transmission electron microscopy studies of the deposition of size-selected sub-nanometre platinum clusters
机译:
扫描透射电子显微镜研究尺寸选择的亚纳米铂簇的沉积
作者:
M Couillard
;
R E Palmer
;
P D Nellist
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
43.
Investigating graphitising carbons using EELS in the FEGTEM
机译:
使用鳗鱼在FEGTEM中调查石墨碳碳
作者:
H.R. Daniels
;
R. Brydson
;
B. Rand
;
A.P.E. Brown
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
44.
Microstructural aspects of the early stages of GaN growth by MOCVD
机译:
MOCVD GaN生长早期阶段的微观结构方面
作者:
C.S. Ramloll
;
Z. Bougrioua
;
J.S. Barnard
;
C.J. Humphreys
;
I.Moerman
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
45.
Fowler-Nordheim theory for a spherical emitting surface
机译:
Fowler-Nordheim用于球形发光表面的理论
作者:
C J Edgcombe
;
U Valdre
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
46.
Elemental mapping of spinodal decomposition in duplex stainless steels
机译:
双相不锈钢纺丝岩分解的元素映射
作者:
T Yamada
;
J M Titchmarsh
;
R E Dunin-Borkowski
;
S Lozano-Perez
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
47.
The chemical and electrical properties of InGaN quantum wells grown with interrupts: A comprehensive TEM case study
机译:
InGaN量子孔的中断生长的化学和电性能:全面的TEM案例研究
作者:
J S Barnard
;
N Sharma
;
H K Cho
;
C J Humphreys
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
48.
Extreme FESEM
机译:
极端FeSem.
作者:
E D Boyes
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
49.
Differentiation of zirconia polymorphs using EELS and ELNES
机译:
使用鳗鱼和elnes的氧化锆多晶型物的分化
作者:
I.M. Ross
;
W.M. Rainforth
;
A.J. Scott
;
A.P. Brown
;
R. Brydson
;
D.W. McComb
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
50.
Data reduction methods in EELS and EFTEM spectrum-image analysis
机译:
鳗鱼和EFTEM谱图像分析中的数据减少方法
作者:
P J Thomas
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
51.
HREM analysis of ∑3 {112} boundaries in gold bicrystal films
机译:
黄金双层膜中Σ3{112}边界的HREM分析
作者:
CJD Hetherington
;
U Dahmen
;
R Kilaas
;
AI Kirkland
;
RR Meyer
;
DL Medlin
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
52.
Imaging doped regions in a semiconductor with very low energy SEM and Auger electrons.
机译:
成像掺杂半导体中的掺杂区域,具有非常低的能量SEM和螺旋钻电子。
作者:
M M El-Gomati
;
T C R Wells
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
53.
Microstructural characterization of intergranular stress corrosion cracking of 300 series stainless steels in PWR conditions
机译:
PWW条件300系列不锈钢晶间应力腐蚀裂纹的微观结构特征
作者:
Y Huang
;
S.Lozano-Perez
;
J.M.Titchmarsh
;
M.L.Jenkins
;
K.Fujii
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
54.
Towards scanned neutral particle microscopy: Developing neutral particle analogues of charged particle lenses.
机译:
朝向扫描中性颗粒显微镜:发育带电粒子透镜的中性粒子类似物。
作者:
G Zabow
;
M G Prentiss
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
55.
Study on the atomic structure change of iron nitride irradiated by high energy particles using HREM, EELS and image processing
机译:
使用HREM,EEL和图像处理测量高能粒子碳氮化物原子结构变化的研究
作者:
H Hashimoto
;
Z Q Liu
;
T Sakata
;
H Mori
;
M Song
;
H Yasuda
;
K Furuya
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
56.
Quantitative energy filtering TEM to study spin valves
机译:
学习旋转阀的定量能量滤波温度
作者:
P. Bayle-Guillemaud
;
C. Mocuta
;
A. Barbier
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
57.
Detecting local energy states at dislocations in diamond
机译:
检测钻石位错的局部能量状态
作者:
A T Kolodzie
;
M Murfitt
;
A L Bleloch
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
58.
Elemental imaging of CoCrTa longitudinal magnetic recording media
机译:
CoCrocra纵向磁记录介质的元素成像
作者:
J E Wittig
;
J Bentley
;
J FAl-Sharab
;
N D Evans
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
59.
Time- and space-dependent image contrast mechanisms in environmental scanning electron microscopy (ESEM)
机译:
环境扫描电子显微镜(ESEM)中的时间和空间依赖性图像对比机制
作者:
J M Rodenburg
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
60.
EDX profiling of cross-sectioned archaeological leather
机译:
EDX剖析考古皮革的分析
作者:
A J W Yates
;
K Durose
;
C Caple
;
P Clogg
;
I Hovmand
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
61.
Microstructural investigations of the chromia-titania system
机译:
染色体 - 二氧化钛系统的微观结构研究
作者:
S P McBride
;
R M D Brydson
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
62.
Analytical electron microscopy of laser-deposited metal patterns
机译:
激光沉积金属图案的分析电子显微镜
作者:
M R Davidson
;
G J Berry
;
Y Fan
;
J A Cairns
;
J Thomson
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
63.
An assessment of image simulation methods for exit wave restoration
机译:
退出波恢复图像仿真方法的评估
作者:
L Y Chang
;
R R Meyer
;
A I Kirkland
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
64.
Direct Specimen Plane Wave Recovery for Strong Objects
机译:
直接标本平面波恢复强对象
作者:
O S Makin
;
W O Saxton
;
J C Loudon
;
S J Lloyd
;
P A Midgley
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
65.
Surface modifications in amorphous GeS induced by an electron beam
机译:
电子束引起的非晶因子的表面修改
作者:
J S Romero
;
A G Fitzgerald
;
K Mietzsch
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
66.
Surface morphology studies on carbon nitride films prepared by rf magnetron sputtering
机译:
RF磁控溅射制备的碳氮化物膜的表面形态学研究
作者:
Liudi Jiang
;
A. G. Fitzgerald
;
M. J. Rose
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
67.
Transmission electron microscopy of silicon-Pyrex electrostatic bonds
机译:
硅Pyrox静电键的透射电子显微镜
作者:
A T J van Helvoort
;
K M Knowles
;
C B Boothroyd
;
J A Fernie
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
68.
Microstructure of capacitor discharge joined SiAlON and silicon nitride ceramics
机译:
电容器放电的微观结构连接赛隆和氮化硅陶瓷
作者:
S Turan
;
D Turan
;
IA Bucklow
;
ER Wallach
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
69.
Nanoanalysis of Dispersion Strengthening Particles in Thin Slab Cast Vanadium Microalloyed Steels
机译:
薄板坯铸造钒微合金钢分散强化颗粒的纳米分析
作者:
J A Wilson
;
A J Craven
;
Y Li
;
T N Baker
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
70.
Brownian motion and microscopy of nanostructures
机译:
纳米结构的布朗运动和显微镜
作者:
A Howie
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
71.
Electron microscopy study of the nanocrystalline precipitates in a 12Cr-9Ni-4Mo-2Cu maraging steel
机译:
在12Cr-9Ni-4Mo-2Cu-2Cu Maring钢中的纳米晶体沉淀物的电子显微镜研究
作者:
X. Y. Wang
;
M. L. Jenkins
;
J. M. Titchmarsh
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
72.
Microstructural characterisation of biocompatible sol-gel derived vanadium-aluminium doped TiO_2 on Ti substrates
机译:
基材上的生物相容性溶胶 - 凝胶衍生钒铝掺杂TiO_2的微观组织特征
作者:
S. Marlafeka
;
F. Allison
;
D.M. Grant
;
P.G. Harrison
;
P.D. Brown
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
73.
Image Simulations of Quantum Dots
机译:
量子点的图像模拟
作者:
C Lang
;
X Z Liao
;
D J H Cockayne
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
74.
Pt, Rh and Pd nano-particles supported on Ce_(0.68)Zr_(0.32)O_2 mixed oxide for application in automotive three-way catalysts
机译:
Pt,Rh和Pd纳米颗粒在Ce_(0.68)Zr_(0.32)O_2混合氧化物中,用于汽车三元催化剂
作者:
RT Baker
;
S Bernal
;
JJ Calvino
;
JM Gatica
;
C Lopez Cartes
;
JA Perez Omil
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
75.
Identification of oxidation products in multicomponent Nb-based intermetallics by EDS and WDS
机译:
EDS和WDS鉴定多组分NB基础金属间金属间质的氧化产物
作者:
Sarath K Menon
;
Madan G Mendiratta
;
Dennis M Dimiduk
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
76.
The role of metal-support interaction on the oxidation of noble metals supported on cerium based oxides
机译:
金属支持相互作用对贵金属氧化铈负载的贵金属氧化的作用
作者:
S Bernal
;
J J Calvino
;
M A Cauqui
;
C. Lopez-Cartes
;
J A Perez-Omil
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
77.
Three-dimensional magnetic fields of nanoscale elements determined by electron-holographic tomography
机译:
通过电子全息层析成像确定的纳米级元素的三维磁场
作者:
V Stolojan
;
RE Dunin-Borkowski
;
M Weyland
;
PA Midgley
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
78.
Correlating low-loss EELS and ELNES of carbon nano-structures
机译:
碳纳米结构的低损耗鳗鱼和elnes
作者:
A Seepujak
;
A Gutierrez-Sosa
;
A J Harvey
;
U Bangert
;
V D Blank
;
B A Kulnitskiy
;
D V Batov
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
79.
TEM investigations of industrial platinum on graphite catalyst systems: image processing and particle morphology
机译:
石墨催化剂系统工业铂的TEM调查:图像处理与颗粒形态
作者:
S C Weller
;
P D Nellist
;
J Gillies
;
R E Palmer
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
80.
Chemical Imaging with a Raman Atomic-Force Microscope
机译:
用拉曼原子力显微镜的化学成像
作者:
Mark S. Anderson
;
William T. Pike
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
81.
Lorentz microscopy study of spin tunnel junction elements
机译:
旋转隧道结元件的洛伦兹显微镜研究
作者:
Ping Shang
;
Andrew Hogwood
;
Thomas C Anthony
;
Amanda Petford-Long
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
82.
Microstructural characterisation of melt infiltrated boron carbide-aluminium composites
机译:
熔融渗透碳化硼 - 铝复合材料的微观组织特征
作者:
G Arslan
;
F Kara
;
S Turan
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
83.
Element specific nanoscale electron tomography
机译:
元素特异性纳米级电子断层扫描
作者:
G Moebus
;
B J Inkson
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
84.
The effect of copper oxide addition and the heat treatment temperature on the microstructure of zinc containing soft porcelain crystal glazes
机译:
氧化铜添加和热处理温度对含有软瓷玻璃锌微观结构的影响
作者:
S Turan
;
B Karasu
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
85.
The Structure of the α'/β Martensite Interface in 10Mo-Ti
机译:
10%Mo-Ti中的α“/β马氏体界面的结构
作者:
D O Klenov
;
R C Pond
;
M Aindow
;
J L Hutchison
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
86.
Electron spectroscopy and electron microscopy of semiconductor thin films
机译:
半导体薄膜的电子光谱和电子显微镜
作者:
A G Fitzgerald
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
87.
Analysis of biological structures by EELS and energy filtering
机译:
鳗鱼和能量滤波的生物结构分析
作者:
K D Leapman
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
88.
Imaging properties of various gases in the environmental SEM
机译:
环境SEM中各种气体的成像性质
作者:
B Thiel
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
89.
Electron energy loss spectroscopy (EELS) at the magic angle
机译:
电子能量损失光谱(鳗鱼)处于魔角
作者:
H R Daniels
;
A P Brown
;
A J Scott
;
R M D Brydson
;
A A W Nichells
;
B Rand
;
Institute of Physics
;
Conference Series Number 168
会议名称:
《Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference》
|
2001年
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