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Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA
Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA
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1.
Primary Detection of Hardwood Log Defects Using Laser Surface Scanning
机译:
使用激光表面扫描初步检测硬木原木缺陷
作者:
Ed Thomas
;
Liya Thomas
;
Lamine Mili
;
Roger Enrich
;
A. Lynn Abbott
;
Clifford Shaffer
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
laser scanning;
wood processing;
defect detection;
robust estimation;
circle fitting;
2.
Skeletonization based on Symmetric Point Pairs Sequence and its application
机译:
基于对称点对序列的骨架化及其应用
作者:
XiaoJun Li
;
YiXin Zhang
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
skeleton;
triangulation;
symmetric analysis;
crossing region;
3.
Using High Speed Camera to Discriminate Projective Line with an Adverse Illumination
机译:
使用高速相机以逆向照明区分投影线
作者:
Tadeusz Sliwa
;
Yvon Voisin
;
Alain Diou
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
structured light;
high speed camera;
line scanning;
adverse illumination;
pattern tracking;
4.
Temperature mapping in heat treatment processes with a standard color-video camera by means of image processing
机译:
使用标准彩色摄像机通过图像处理在热处理过程中进行温度映射
作者:
Gerald Zauner
;
Daniel Heim
;
Guenther Hendorfer
;
Kurt Niel
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
color image processing;
image stacking;
plasma-nitriding;
temperature mapping;
5.
Relief reconstruction of rough textured surface through image analysis
机译:
通过图像分析修复粗糙纹理表面
作者:
Benslimane A.
;
Khoudeir M.
;
Brochard J.
;
Legeay V.
;
Do M-T.
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
relief;
roughness;
texture analysis;
road surface;
6.
A Machine Vision Technique for Measuring Glass Container Thickness
机译:
一种用于测量玻璃容器厚度的机器视觉技术
作者:
Ralph M. Ford
;
Jeffrey A. Mercier
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
glass bottle;
inspection;
thickness;
and measurement;
7.
Automated visual inspection for polished stone manufacture
机译:
自动化外观检查,以制造抛光石材
作者:
Melvyn Smith
;
Lyndon Smith
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
stone polishing;
surface inspection;
photometric stereo;
bump map;
8.
Camera Calibration Technique with Planar Scenes
机译:
带有平面场景的相机校准技术
作者:
Yongjun Zhang
;
Zuxun Zhang
;
Jianqing Zhang
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
camera calibration;
2D-DLT;
bundle adjustment;
planar grid;
critical motion sequences;
lens distortion;
9.
Determination of speckle fringe orientation map by image sequence and removing the speckle noise from speckle fringe patterns
机译:
通过图像序列确定散斑条纹方向图并去除散斑条纹图案中的散斑噪声
作者:
Qifeng Yu
;
Xiangyi Sun
;
Sihua Fu
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
speckle fringe;
spin filtering;
fringe orientation;
image sequence;
digital correlation;
10.
Computer-Vision-Based Gob Inspection System for Monitoring and Control in Glass Industry
机译:
基于计算机视觉的玻璃行业用于监控的料滴检测系统
作者:
Eskarne Laizola
;
Antonio R. Jimenez
;
Fernando Morgado
;
Mar Calvache
;
Fernando Seco
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
glass gob inspection;
weight estimation;
image processing;
repetitive control;
11.
Content-based segmentation of patterned wafer for automatic threshold determination
机译:
基于内容的图案化晶圆分割,用于自动确定阈值
作者:
Pierrick Bourgeat
;
Fabrice Meriaudeau
;
Patrick Gorria
;
Kenneth W. Tobin
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
wafer inspection;
discrete wavelet transform;
segmentation;
12.
Estimation of electron beam profile from SEM image by using Wavelet multiresolution analysis
机译:
基于小波多分辨率分析的SEM图像电子束轮廓估计
作者:
Masaaki Chikahisa
;
Koji Nakamae
;
Hiromu Fujioka
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
wavelet multiresolution analysis;
SEM image;
profile estimation;
electron beam profile;
in-line process inspection;
13.
Eigenspace Technique for Object Characterization in a Disaster Field
机译:
特征空间技术用于灾害现场目标表征
作者:
Falguni Biswas
;
M. Ashrafuzzaman
;
Hideo Nagase
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
pattern recognition;
mean appearance;
object accumulation;
robot vision;
computer vision;
eigenspace;
principle component analysis;
14.
Dynamic classification of fringe patterns in holographic interferometry by optical wavelet filtering
机译:
光学干涉小波在全息干涉术中条纹图案的动态分类
作者:
F. Kallmeyer
;
S. Krueger
;
G. Wernicke
;
H. Gruber
;
D. Kayser
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
optical image processing;
fault detection;
interferometric fringe pattern;
spatial light modulators;
wavelet filtering;
15.
Estimating cross-section semiconductor structure by comparing top-down SEM images
机译:
通过比较自上而下的SEM图像估算截面半导体结构
作者:
Jeffery R. Price
;
Philip R. Bingham
;
Kenneth W. Tobin
;
Jr.
;
Thomas P. Karnowski
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
CD-SEM metrology;
semiconductor inspection;
lithography;
image retrieval;
linear discriminant analysis (LDA);
16.
Stereo Vision Technology for Object Measurement
机译:
用于物体测量的立体视觉技术
作者:
Lyndon N. Smith
;
Melvyn L. Smith
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
object metrology;
stereo vision;
structured light;
hybrid;
17.
Shape Description and Analysis of Range Data for Milled Steel Blocks
机译:
铣削钢块的形状描述和范围数据分析
作者:
Franz Pernkopf
;
Paul OLeary
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
surface inspection;
range imaging;
curvature scale-space;
shape description;
18.
Three Color Selective Stereo Gradient Method for fast Topography Recognition of Metallic Surfaces
机译:
金属表面快速形貌识别的三色选择性立体梯度法
作者:
Adameck M.
;
Hossfeld M.
;
Eich M.
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
selective stereo gradient method;
SSGM;
bidirectional reflection distribution function;
specular metallic surface inspection;
template matching;
pattern recognition;
3D machine vision;
rotation and translation invariance;
classification;
19.
Real Time Multispectral High Temperature Measurement: Application to control in the industry
机译:
实时多光谱高温测量:在工业控制中的应用
作者:
F. Meriaudeau
;
A.C. Legrand
;
P.Gorria
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
20.
Tunnel profile measurement by vision metrology toward application to NATM
机译:
通过视觉计量进行隧道剖面测量,以应用于NATM
作者:
S. Hattori
;
K. Akimoto
;
T. Ono
;
S. Miura
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
vision metrology;
tunnel deformation;
monitoring;
CCD camera;
NATM;
21.
A hybrid machine vision method for autonomous guided vehicles
机译:
自动驾驶车辆的混合机器视觉方法
作者:
Jian LU
;
Kyoko HAMAJIMA
;
Koji ISHIHARA
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
robot navigation;
machine vision;
disparity image;
stereo vision;
object detection;
range-finder;
3D measurement;
template matching;
22.
Automated Image Registration in the Semiconductor Industry: a Case Study in the Direct to Digital Holography Inspection System
机译:
半导体行业中的自动图像配准:直接数字全息检查系统中的案例研究
作者:
X. Long Dai
;
Martin A. Hunt
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
23.
Automated serial number recognition system
机译:
自动序列号识别系统
作者:
Hui Wang
;
Xudong Bao
;
Limin Luo
;
Guoqiang Lv
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
serial number;
character recognition;
visual inspection;
image processing;
24.
Calibration Verification of a Mining Machine using Image Processing
机译:
使用图像处理的采矿机的校准验证
作者:
Ronald Other
;
Gerhard Rath
;
Paul OLeary
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
mining machines;
kinematics;
projective geometry;
robot calibration;
image processing;
25.
Distributed Image Processing System for the Monitoring of Hot Steel Wire
机译:
分布式监控热钢丝的图像处理系统
作者:
Paul OLeary
;
Michael Weiss
;
Arnulf Schiller
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
distributed vision system;
fitting;
planar line coordinates;
grassmanian reduction;
platform independent concepts;
wire rolling mill;
26.
Accurate surface reconstruction of large 3D objects from range data
机译:
根据距离数据对大型3D对象进行精确的表面重建
作者:
Xiaokun Li
;
Lei He
;
Bryan Everding
;
Chia Y. Han
;
W. G. Wee
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
machine vision;
3D reconstruction;
industrial inspection;
27.
A vision system for auto-detection of cashmere pigmented fibres
机译:
用于自动检测羊绒色素纤维的视觉系统
作者:
Z. Su
;
A. A. Dehghani
;
L. Zhang
;
T. King
;
B. Greenwood
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
computer vision;
image processing;
cashmere fibre;
algorithm;
measurement;
28.
Classification of painting cracks for content-based analysis
机译:
基于内容分析的绘画裂缝分类
作者:
F.S. Abas
;
K. Martinez
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
feature extraction;
morphological filters;
crack detection;
clustering;
29.
Development of a strain analyzer system for sheet metal stamped parts based on an optical 3D digitizer
机译:
基于光学3D数字化仪的钣金冲压件应变分析仪系统的开发
作者:
Eusebio Carasusan
;
Fernando Canal
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
strain analyser;
optical digitizer;
stretch directions;
FLD diagram;
30.
Fine Structure Measurement in the SEM Cross Section of LSI Using the Canny Edge Detector
机译:
使用Canny Edge检测器测量LSI SEM截面中的精细结构
作者:
Y. Midoh
;
K. Miura
;
K. Nakamae
;
H. Fujioka
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
canny edge detector;
SEM image;
shot noise;
CD measurement;
image processing;
31.
Comprehensive Investigation of Sub-pixel Edge Detection Schemes in Metrology
机译:
计量学中亚像素边缘检测方案的综合研究
作者:
Vidya Venkatachalam
;
Richard M. Wasserman
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
sub-pixel;
edge detection;
review;
system simulation;
experimental analysis;
32.
Identification of White Contaminants and Their Removal from Wool Fibers
机译:
鉴定白色污染物并从羊毛纤维中去除
作者:
Liwei Zhang
;
Abbas Dehghani
;
Zhenwei Su
;
Tim King
;
Barry Greenwood
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
automated visual inspection;
color;
contaminants;
image processing;
removal;
wool;
33.
Effect of Acquisition System Features on Algorithm Performance
机译:
采集系统特性对算法性能的影响
作者:
Vidya Venkatachalam
;
Richard M.Wasserman
;
Hiroyuki Yoshida
;
Hidemitsu Asano
;
Yasuhiro Takahama
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
|
2003年
关键词:
vision systems;
image acquisition;
performance;
SNR;
quantization;
bit-depth;
illumination;
34.
NIR spectrophotometric system based on a conventional CCD camera
机译:
基于常规CCD相机的近红外分光光度系统
作者:
Meritxell Vilaseca
;
Jaume Pujol
;
Montserrat Arjona
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
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2003年
关键词:
CCD cameras;
near infrared;
infrared imaging;
multispectral imaging;
spectrophotometric instrumentation;
industrial inspection;
35.
Ornamental stone finished product aesthetic inspection and characterization through a digital spectrophotometric approach
机译:
通过数字分光光度法对观赏石材成品进行美学检查和鉴定
作者:
Giuseppe Bonifazi
;
Stefano Marinelli
会议名称:
《Conference on Machine Vision Applications in Industridal Inspection XI Jan 22-24, 2003 Santa Clara, California, USA》
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2003年
关键词:
ornamental stones;
surface;
polishing;
reflectance;
quality control;
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